Pat
J-GLOBAL ID：200903085881139430

走査型レーザ顕微鏡

Inventor：
佐々木 浩

About 佐々木 浩


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (4)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  村松 貞男 ,  風間 鉄也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004124326
Publication number (International publication number)：2005308985
Application date： Apr. 20, 2004
Publication date： Nov. 04, 2005
Summary：
【課題】 観察方法を切換えても、試料内の狙った位置に正確に刺激レーザ光を照射できる走査型レーザ顕微鏡を提供する。【解決手段】 観察用励起レーザ光を発生する観察用励起レーザ光源ユニット1から標本18までの光路および刺激用レーザ光を発生する半導体レーザユニット33または赤外パルスレーザユニット35から標本18までの光路にそれぞれ配置される第1のビームスプリッタユニット11の励起用ダイクロイックビームスプリッタ11a〜11cおよび第2のビームスプリッタユニット19での合成ダイクロイックビームスプリッタ19a、19bの切換えが原因して、観察用励起レーザ光の走査位置と刺激用レーザ光の走査位置に相対的なずれが生じても、予め記憶部45に記憶された補正情報に基づいて刺激用レーザ光走査手段41による刺激用レーザ光の走査制御を補正する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
観察用励起レーザ光を発生する観察用励起レーザ光源と、 前記観察用励起レーザ光を標本上で2次元走査する第1の走査手段と、 前記観察用励起レーザ光により前記標本から発せられる検出光を検出する検出光学系と、 刺激用レーザ光を発生する刺激用レーザ光源と、 前記刺激用レーザ光を前記標本上で2次元走査する第2の走査手段と、 前記観察用励起レーザ光源から前記標本までの光路又は前記刺激用レーザ光源から前記標本までの光路に光学素子を切換え挿入するための少なくとも1つの光学素子切換え手段と、 前記光学素子切換え手段の切換えによって発生する前記第1および第2の走査手段の走査位置の相対位置ずれに関する補正情報を記憶する記憶手段を有し、該記憶手段に記憶された補正情報に基づいて前記第1および第2の走査手段の少なくとも一方の走査位置を補正制御する制御手段と、 を具備したことを特徴とする走査型レーザ顕微鏡。
IPC (2)：
G02B21/00 ,  G01N21/64
FI (2)：
G02B21/00 ,  G01N21/64 E
F-Term (41)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA03 ,  2G043FA06 ,  2G043GA01 ,  2G043GA02 ,  2G043GB01 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AB24 ,  2H052AB25 ,  2H052AC04 ,  2H052AC13 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC26 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD32 ,  2H052AD33 ,  2H052AD34 ,  2H052AF06 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (5)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM