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J-GLOBAL ID：200903085889964457

温度異常処理方法および温度異常処理機能を有するデータ処理装置

Inventor：
諏訪 修

About 諏訪 修


Applicant, Patent owner：
エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社

About エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社


Agent (3)： 机 昌彦 ,  工藤 雅司 ,  谷澤 靖久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004018911
Publication number (International publication number)：2005215794
Application date： Jan. 27, 2004
Publication date： Aug. 11, 2005
Summary：
【課題】 温度異常が発生した原因を正確に判別し、適切な処置を迅速に実行できる温度異常処理方式を提供する。【解決手段】 装置各部をマルチタスク制御するCPU(中央処理装置)1と、システムプログラムを始めCPU1の各種処理プログラムを格納するROM2と、本装置がデータを一時格納するRAM3と、CPU1の処理を支援するシステム周辺回路部4と、装置内部の雰囲気温度および電子デバイスなどに直接接触して温度を測定するサーミスタ等からなる複数の温度センサ5と、この温度センサ5からの出力信号に基づいて装置内の温度を常時監視し、予め設定された規定温度を超えると検出信号を出力する温度監視回路6と、本装置の各部に電源を供給する電源ユニット7と、本装置内を冷却するための冷却機構8とから構成され、温度監視回路6は装置内部の温度上昇を下げる施策を順次切り替える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
冷却手段を備えシステムクロックに同期して動作する装置内の温度異常を処理するための温度異常処理方法であって、 前記装置の冷却用空気の取り入れ口近傍の雰囲気温度、前記装置の装置内温度を検出し、その温度測定結果に基づいて前記冷却手段の動作および前記システムクロックの周波数を制御することを特徴とする温度異常処理方法。
IPC (3)：
G06F1/20 ,  G06F1/04 ,  H05K7/20
FI (5)：
G06F1/00 360D ,  G06F1/04 301B ,  H05K7/20 J ,  H05K7/20 M ,  G06F1/00 360B
F-Term (7)：
5B079BA01 ,  5B079BB04 ,  5B079BC10 ,  5E322AA05 ,  5E322AB10 ,  5E322BA01 ,  5E322BB05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (5)
  • 情報処理装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-373517   Applicant：米沢日本電気株式会社
  • 電子機器
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-043500   Applicant：富士通株式会社
  • 情報処理装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-203169   Applicant：日本電気株式会社
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