Pat
J-GLOBAL ID：200903086082318981
イオントラップ型質量分析装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997277257
Publication number (International publication number)：1999120956
Application date： Oct. 09, 1997
Publication date： Apr. 30, 1999
Summary：
【要約】【課題】電極空間の外部で生成されたイオンをその空間に導入してトラップするタイプのイオントラップ型質量分析装置において、イオンのトラップ率が質量対電荷比に大きく依存するのを防止し、それによって高感度質量スペクトルを得るのに適したイオントラップ型質量分析装置を提供すること。【解決手段】外部イオン源1で生成された試料イオンはイオン輸送部2を通過後、リング電極6とエンドキャップ電極7、8との間(電極空間)に入射される。RFトラップ電圧電源4はリング電極6及びエンドキャップ電極7、8間にRFトラップ電圧VcosΩtを印加し、電極空間に高周波電界である三次元の四重極電界を形成する。この四重極空間へのイオントラップ期間中は最適捕捉電圧が質量対電荷比の1/2乗に比例するようにRFトラップ電圧を変える。
Claim (excerpt)：
リング電極と、該リング電極が間に配置されるように対向して配置されたエンドキャップ電極と、前記リング電極及びエンドキャップ電極間に形成される電極空間に高周波電界を形成するように前記リング電極及びエンドキャップ電極間に与える高周波電圧を発生する高周波電源と、イオンを生成して、その生成されたイオンを前記電極空間に導入する手段とを含み、予め定められた期間を通じて前記電極空間にイオンを導入して前記電極空間にトラップし、そのトラップされたイオンを前記電極空間から出射させるイオントラップ型質量分析装置において、前記予め定められた期間中に前記高周波電界を順次変えるようにしたことを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。
Patent cited by the Patent：
Return to Previous Page
