Pat
J-GLOBAL ID:200903086166977506
分散体およびエマルジョンの加速された安定性評価
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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,
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Agent (5):
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
, 下山 治
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006517148
Publication number (International publication number):2006527854
Application date: Jun. 14, 2004
Publication date: Dec. 07, 2006
Summary:
試料に応力を加えることにより、粒子間の粒子間ポテンシャル・エネルギー障壁の高さを下げることにより、試料における粒子の有意な塊状化の開始を加速し、分散体およびエマルジョンの安定性(100,10N)を測定する方法および装置。これは、3つの応力因子の内の1つ以上(111,11N)を添加することにより、粒子上の表面電荷を下げるために試料のpHを変更し、粒子上の正味の電荷を下げるために適切な電荷のイオンが粒子の表面に吸着されるように吸着性電解質を添加し、荷電粒子間の静電反発力を部分的に遮蔽するために1価、2価、または3価の塩を加えることにより達成される。好適な実施形態において、塊状化の増加は単一粒子光学センサー(SPOS)などの単一粒子検出を用いて検出される。SPOSは粒子サイズ分布(PSD)(12)をつくり、粒子サイズ分布(PSD)から性能指数(16)が導かれる。別の実施形態は、濁度または光散乱を検出し、塊状化の程度の指標であるX値をつくる。
Claim (excerpt):
液状キャリアー中に懸濁された固体粒子または液滴粒子の分散体を含む試料の安定性を測定する方法であって、粒子間ポテンシャル・エネルギー障壁(interparticle potential energy barrier)が、隣接粒子が短い範囲の強い引力によって不可逆的に塊状化(irreversible agglomeration)するのに十分に互いに接近するを妨げるものであり、
前記方法は、
前記粒子間ポテンシャル・エネルギー障壁の高さを下げて有意に粒子の塊状化(particle agglomeration)の開始を加速するために、前記試料に応力因子(stress factor)を加える工程と、
前記粒子の塊状化の増加を検出する工程と、
を有することを特徴とする方法。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (10)
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米国特許第6,347,884号
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米国特許第6,263,725号
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米国特許第5,257,528号
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米国特許第5,319,958号
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米国特許第3,950,547号
-
特許第6263725号
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エマルジョンの評価方法及び評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-140843
Applicant:三菱重工業株式会社
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粒径分布測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-207358
Applicant:株式会社堀場製作所
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墨インキの分散性の評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-224371
Applicant:大日本インキ化学工業株式会社
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懸濁液の分散安定性を測定するための方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-109564
Applicant:ロームアンドハースカンパニー
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Cited by examiner (4)
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特許第6263725号
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エマルジョンの評価方法及び評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-140843
Applicant:三菱重工業株式会社
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粒径分布測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-207358
Applicant:株式会社堀場製作所
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墨インキの分散性の評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-224371
Applicant:大日本インキ化学工業株式会社
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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AMERICAN LABORATORY, 200101, V33 N1, P32-39
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PHARMACEUTICAL DOSAGE FORMS: DISPERSE SYSTEMS, 1988, V1, P49,63,66,70-71
Cited by examiner (2)
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AMERICAN LABORATORY, 200101, V33 N1, P32-39
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PHARMACEUTICAL DOSAGE FORMS: DISPERSE SYSTEMS, 1988, V1, P49,63,66,70-71
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