延伸されたマイクロチャンネルアレイ装置とそれを使用する分析方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：浅村皓 , 浅村肇 , 池田幸弘 , 浅村昌弘
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002549935
Publication number (International publication number)：2004526944
Application date： Dec. 13, 2001
Publication date： Sep. 02, 2004
Summary：

断面を減らすために、構成要素のアレイを有するバルクプレフォームから延伸されるマイクロチャンネルアレイ装置。断面が減らされた繊維状構造を切断して、小さなスケールの個々のアレイを作る。エンドキャップは延伸され、任意にマイクロ機械加工される。エンドキャップはマイクロチャンネルアレイと共に使用する、入口及び出口ポート及び他の構造を提供するために使用される。マイクロチャンネルアレイは、分析用の異なったエンドキャップと共に使用でき、ラボ・オン・ア・チップ又はその構成要素を形成できる。

Claim (excerpt)：

複数の試料成分を分析するための装置であって、長さのある延伸された基板を含み、該延伸された基板が、その中に形成された少なくとも2つの延伸されたチャンネルを有し、該延伸されたチャンネルが、長さに平行な方向に延び、入口と出口が延伸されたチャンネルと協調関係にあるように配置された、上記装置。

IPC (4)：

G01N35/08 , B81B1/00 , G01N21/03 , G01N37/00

FI (5)：

G01N35/08 Z , B81B1/00 , G01N21/03 Z , G01N37/00 101 , G01N37/00 103

F-Term (9)：

2G057AA01 , 2G057AB06 , 2G057AC01 , 2G057BA01 , 2G057BA03 , 2G057BB01 , 2G057BB04 , 2G057BB06 , 2G057BD04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

サンプル測定デバイス及びサンプル測定システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-264895 Applicant：キヤノン株式会社
測光装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-209508 Applicant：ミリポア・コーポレイション
光学測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-115093 Applicant：株式会社日立製作所

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