Pat

J-GLOBAL ID：200903086559114607

粒度分布測定装置

Inventor： 池田 英幸 ,  吉岡 誠一郎
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000142963
Publication number (International publication number)：2001324441
Application date： May. 16, 2000
Publication date： Nov. 22, 2001
Summary：

【要約】【課題】 粒度分布測定装置のバリデーション作業を手順を装置操作者に知らせる機能を持たせることによって、複雑なバリデーション作業におけるミスの発生を防止することができる粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 粒度分布測定装置1のバリデーション作業の手順を示すバリデーションデータDを記録する記憶媒体3mと、このバリデーションデータDから順次バリデーションの手順を読み取ると共に、この手順のうち装置操作者の操作を必要としない測定手順に従った粒度分布測定装置1の制御を順次実行する一方、装置操作者の操作を必要とする作業手順を装置操作者に指示するためのバリデーション支援機能とを有する装置制御部3を備えた。

Claim (excerpt)：

粒度分布測定装置のバリデーション作業の手順を示すバリデーションデータを記録する記憶媒体と、このバリデーションデータから順次バリデーションの手順を読み取ると共に、この手順のうち装置操作者の操作を必要としない測定手順に従った粒度分布測定装置の制御を順次実行する一方、装置操作者の操作を必要とする作業手順を装置操作者に指示するためのバリデーション支援機能を有する装置制御部とを備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 自動分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-038134   Applicant：株式会社日立製作所