Pat
J-GLOBAL ID：200903086965174971
校正用基準光源およびそれを用いる校正システム
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：
小谷 悦司
, 伊藤 孝夫
, 樋口 次郎
, 櫻井 智
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007218791
Publication number (International publication number)：2009052978
Application date： Aug. 24, 2007
Publication date： Mar. 12, 2009
Summary：
【課題】分光輝度計および分光照度計の波長および感度を校正するために使用される校正用基準光源において、A光源などの黒体放射光源を使用することなく、ユーザサイドで、容易に高精度な校正を行えるようにする。【解決手段】相互に異なる単波長の基準光を放射する複数の単波長光源を使用する。そして、制御処理手段5は、強度モニタ用センサ4によって強度を測定するだけではなく、波長モニタ用分光器3によって波長も測定して、強度-輝度変換用データによって参照輝度を求める。したがって、得られた参照輝度の信頼性が高く、ユーザサイドで被校正分光輝度計101の感度補正を高い精度および信頼性で行えるとともに、単波長光源として、安価で多くの波長があり、補間による補正係数の精度確保に必要な密度で参照波長を配置できるLED21〜27を使用することができ、測定波長域全体の補正精度を上げることができる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
分光輝度計および分光照度計の波長および感度を校正するために使用される校正用基準光源において、
相互に異なる単波長の基準光を放射する複数の単波長光源と、
前記単波長基準光を放射する輝度基準面と、
前記単波長基準光の波長を参照波長として測定する波長測定手段と、
前記単波長基準光の強度を参照強度として測定する強度測定手段と、
前記複数の単波長光源を順次点灯させて前記単波長基準光を放射させるとともに、前記波長測定手段および強度測定手段によって測定された前記単波長基準光の参照波長および参照強度から、前記輝度基準面の参照輝度を求める制御処理手段とを含むことを特徴とする校正用基準光源。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (12)：
2G020AA04
, 2G020AA08
, 2G020CB43
, 2G020CC63
, 2G020CD03
, 2G020CD14
, 2G020CD24
, 2G020CD38
, 2G020CD39
, 2G020DA12
, 2G020DA63
, 2G020DA65
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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