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J-GLOBAL ID：200903027832195724

分光輝度計の校正用基準光源、これを用いた校正方法、及び校正システムの動作プログラム

Inventor：
井村 健二

About 井村 健二


Applicant, Patent owner：
コニカミノルタセンシング株式会社

About コニカミノルタセンシング株式会社


Agent (3)： 小谷 悦司 ,  伊藤 孝夫 ,  樋口 次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004371563
Publication number (International publication number)：2006177785
Application date： Dec. 22, 2004
Publication date： Jul. 06, 2006
Summary：
【課題】 メーカサイドの工場やサービス拠点等でしか事実上行えなかった分光輝度計の波長及び感度の校正を、ユーザサイドでも行うことができるようにする。【解決手段】 校正用基準光源1は、積分球11、制御処理部12、モニターセンサ14、複数の単波長基準光を発生する半導体レーザを備えるレーザユニット2等を備えて構成されている。制御処理部12は、前記複数の半導体レーザを順次点灯させ、積分球11によって多重反射された上で出力開口11aから放射される単波長基準光の強度を、モニターセンサ14によってモニターさせる動作を制御する。前記出力開口11aに、校正対象とされる分光輝度計4の受光部が配向され、制御用PC5により、校正用基準光源1及び分光輝度計4の動作が制御される。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
異なる波長の単波長光を放射する複数の単波長光源と、 前記単波長光が入射し、前記異なる波長による複数の単波長基準光を放射する基準輝度面を形成する基準輝度面形成手段と、 前記基準輝度面が放射する単波長基準光をモニターするモニターセンサと、 制御手段とを具備する分光輝度計の校正用基準光源であって、 前記制御手段は、前記複数の単波長光源を点灯させ、前記基準輝度面から放射される前記単波長基準光の強度を、前記モニターセンサによってモニターさせる動作を制御するものである ことを特徴とする分光輝度計の校正用基準光源。
IPC (2)：
G01J 3/10 ,  G01J 3/02
FI (2)：
G01J3/10 ,  G01J3/02 C
F-Term (7)：
2G020AA04 ,  2G020CB23 ,  2G020CB43 ,  2G020CB55 ,  2G020CD37 ,  2G020CD38 ,  2G020CD39
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (3)

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