Pat
J-GLOBAL ID:200903087095319576
接合型電界効果トランジスタ及びその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
天野 広
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002342691
Publication number (International publication number):2004179318
Application date: Nov. 26, 2002
Publication date: Jun. 24, 2004
Summary:
【課題】接合ゲート型電界効果トランジスタにおいてゲート順方向立ち上がり電圧を高く、かつ、オン抵抗を低くする。【解決手段】キャップ層111に形成されたリセスの表面に露出した半導体層109上において、再成長により再成長半導体層112を形成する。チャネル層107は第1の導電型の不純物を含有し、再成長半導体層112は第2の導電型の不純物を含有している。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
第1の導電型のキャリアを含有するチャネル層と、
前記チャネル層上に形成され、前記第1の導電型のキャリアを含有するキャップ層と、
前記キャップ層上に形成されたオーミック電極と、
前記チャネル層上に形成されたゲート電極と、
を少なくとも備える電界効果トランジスタにおいて、
前記キャップ層に形成されたリセスの表面に露出した半導体層上において再成長により形成された再成長半導体層であって、第2の導電型の不純物を含有する再成長半導体層を有し、
前記ゲート電極は前記再成長半導体層上に形成されていることを特徴とする電界効果トランジスタ。
IPC (5):
H01L21/337
, H01L21/338
, H01L29/778
, H01L29/808
, H01L29/812
FI (2):
H01L29/80 C
, H01L29/80 H
F-Term (23):
5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD02
, 5F102GD04
, 5F102GJ05
, 5F102GK06
, 5F102GK08
, 5F102GL04
, 5F102GM05
, 5F102GM06
, 5F102GM08
, 5F102GN08
, 5F102GN10
, 5F102GQ03
, 5F102GR04
, 5F102GR10
, 5F102GS01
, 5F102GS04
, 5F102GV07
, 5F102GV08
, 5F102HC01
, 5F102HC02
, 5F102HC16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
-
特開昭54-021283
-
電界効果トランジスタおよびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-060511
Applicant:日本電気株式会社
Return to Previous Page