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J-GLOBAL ID：200903087121602893
残留塩素測定方法及び残留塩素測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (2)：
西村 竜平
, 佐藤 明子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005337769
Publication number (International publication number)：2007139725
Application date： Nov. 22, 2005
Publication date： Jun. 07, 2007
Summary：
【課題】有害な試薬を用いることなく、また客観的な測定結果を得ることができ、さらに電位窓の影響を受けずに、正確且つ容易に残留塩素測定を行うことができる測定方法及び測定装置を提供することである。【解決手段】測定対象である残留塩素を含有する試料溶液に対電極4、作用電極2及び参照電極3を接触させ、前記対電極4と作用電極2との間に電圧を印加して、当該電圧下における電流値を測定することにより、前記残留塩素濃度を算出する残留塩素測定方法であって、前記作用電極2がホウ素をドープした導電性ダイヤモンド電極であり、前記参照電極3が、銀/塩化銀電極であり前記銀/塩化銀電極3に対する前記導電性ダイヤモンド電極2の電位を+0.5V〜+1.5Vとしたときの電流値を測定するものであることを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
測定対象である残留塩素を含有する試料溶液に対電極、作用電極及び参照電極を接触させ、前記対電極と前記作用電極との間に電圧を印加して、当該電圧下における電流値を測定することにより、前記残留塩素濃度を算出する残留塩素測定方法であって、
前記作用電極が13族又は15族の元素をドープした導電性ダイヤモンド電極であり、
前記参照電極が銀/塩化銀電極であり、
前記銀/塩化銀電極に対する前記導電性ダイヤモンド電極の電位を+0.5V〜+1.5Vとしたときの電流値を測定するものであることを特徴とする残留塩素測定方法。
IPC (2)：
FI (3)：
G01N27/46 316Z
, G01N27/30 B
, G01N27/30 311Z
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (7)
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Article cited by the Patent：
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