遊離塩素測定用装置及び方法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：滝田清暉 , 下田昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002248908
Publication number (International publication number)：2004085450
Application date： Aug. 28, 2002
Publication date： Mar. 18, 2004
Summary：

【課題】遊離残留塩素の分析を行うための電極及びそれを用いた遊離塩素濃度の測定方法に関する。【解決手段】遊離残留塩素の酸化反応を利用して遊離残留塩素を分析する。作用電極の電位を参照電極の電位又は対極の電位に対して正にした点に特徴がある。本発明は、作用電極、参照電極及び対極を備えた遊離塩素測定用電極であって、参照電極に対する作用電極の電位が正である遊離塩素測定用電極である。この電位は+0.6〜+1.4である。また本発明は、作用電極、参照電極及び対極を備えた遊離塩素測定用電極を用いて、前記参照電極に対する作用電極の電位をレストポテンシャルから正方向に変化させ、前記対極と作用電極との間の電流を測定することから成る遊離塩素を含む被検液中の遊離塩素濃度を測定する方法である。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

作用電極、参照電極、対極及びこれらの電極に接続される電気化学計測装置からなり、該電気化学計測装置が作用電極に銀/塩化銀参照電極に対して+0.6〜+1.4V又はこれに相当する電位を生ぜしむるユニット、及び作用電極において対極に対する作用電極の電流極性が正である電流を計測するユニットを有することを特徴とする遊離塩素測定用装置。

IPC (2)：

G01N27/416 , G01N27/30

FI (2)：

G01N27/46 301G , G01N27/30 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

酸性液中の残留塩素濃度測定装置及び測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-362278 Applicant：松下電器産業株式会社
残留塩素濃度測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-257580 Applicant：株式会社ノーリツ, 株式会社タクミナ
遊離残留塩素測定用電極およびこれを用いる測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-135258 Applicant：山田明文, 大澤久男, 株式会社扶桑製作所

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