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J-GLOBAL ID：200903087390073104

手ぶれ検出装置及び該手ぶれ検出装置を利用した手ぶれ防止装置

Inventor：
松澤 良紀

About 松澤 良紀


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994096446
Publication number (International publication number)：1995301836
Application date： May. 10, 1994
Publication date： Nov. 14, 1995
Summary：
【要約】【目的】この発明は、手ぶれが大きい場合にはハイパスフィルタによりのオフセットを積極的に取り、手ぶれが小さい場合には手ぶれ検出周波数帯を大きく取り、その時点時点で手ぶれと判断される信号をオフセットを無くし、また信号の有効成分の比率を高く正確に精度良く検出することを特徴とする。【構成】手ぶれ検出装置11は、手ぶれセンサ部12と、この手ぶれセンサ部12のドリフトとオフセット成分を除去するHPF演算部13と、このHPF演算部13の出力から大ぶれ信号状態を検出するHPF大信号判定部14と、このHPF大信号判定部14により大ぶれが検出された場合に上記HPF演算部13の信号除去の上限周波数を高周波側に移行させる小時定数再設定部15と、上記HPF演算部13の信号除去の上限周波数を高周波側から低周波側へ移行させる時定数長大化部16とを有して構成されている。
Claim (excerpt)：
手ぶれ状態を検出し、手ぶれ検出信号を出力する手ぶれセンサ手段と、上記手ぶれ検出信号からドリフト及びオフセット成分を除去するためのハイパスフィルタ演算手段と、このハイパスフィルタ演算手段のカットオフ周波数を高周波側から低周波側へ移行させる第1時定数変更手段と、上記ハイパスフィルタ演算手段の出力に基いて、大ぶれ状態であることを判定する判定手段と、この判定手段によって上記大ぶれ状態が検出された場合に、上記カットオフ周波数を高周波側に移行させる第2時定数変更手段とを具備することを特徴とする手ぶれ検出装置。
IPC (3)：
G03B 5/00 ,  G01H 17/00 ,  G03B 17/00
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
  • 特開昭62-241420
  • 特開昭62-241420
  • 特開昭61-118072
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