演算方式、半導体装置及び画像情報処理装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山下穣平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994012663
Publication number (International publication number)：1995220084
Application date： Feb. 04, 1994
Publication date： Aug. 18, 1995
Summary：

【要約】【目的】高速、高精度で実現する相関演算のアルゴリズム、それを効率よく達成する半導体装置、画像情報処理装置を得る。【構成】第1のデータ集合と第2のデータ集合とがあり、第1のデータ集合の中の第3のデータ列にもっとも近いデータ列を第2のデータ集合の中から探索する場合、第3のデータ列と第2のデータ集合中のデータ列との差の関数が、所望の第1の値以内かどうかの判別条件により第2のデータ集合中のデータ列を選別する第1の工程と、選別された第2の集合の限定された領域中のデータ列と第3のデータ列との差の関数が、第1の値より小さい第2の値以内かどうかの判別条件により限定された領域中のデータ列をさらに選別する第2工程と、を少なくとも有する。

Claim (excerpt)：

第1のデータ集合と第2のデータ集合とがあり、該第1のデータ集合の中の第3のデータ列にもっとも近いデータ列を該第2のデータ集合の中から探索する場合、前記第3のデータ列と前記第2のデータ集合中のデータ列との差の関数が、所望の第1の値以内かどうかの判別条件により該第2のデータ集合中のデータ列を選別する第1の工程と、選別された第2の集合の限定された領域中のデータ列と前記第3のデータ列との差の関数が、前記第1の値より小さい第2の値以内かどうかの判別条件により該限定された領域中のデータ列をさらに選別する第2工程と、を少なくとも有することを特徴とする演算方式。

IPC (2)：

G06T 7/00 , G06F 17/15

FI (3)：

G06F 15/70 460 A , G06F 15/336 , G06F 15/62 415

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (12)

特開平1-156880
特開平4-023594
ステレオ画像処理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-070377 Applicant：ダイハツ工業株式会社

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