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J-GLOBAL ID:200903087424869361

演算方式、半導体装置及び画像情報処理装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山下 穣平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994012663
Publication number (International publication number):1995220084
Application date: Feb. 04, 1994
Publication date: Aug. 18, 1995
Summary:
【要約】【目的】 高速、高精度で実現する相関演算のアルゴリズム、それを効率よく達成する半導体装置、画像情報処理装置を得る。【構成】 第1のデータ集合と第2のデータ集合とがあり、第1のデータ集合の中の第3のデータ列にもっとも近いデータ列を第2のデータ集合の中から探索する場合、第3のデータ列と第2のデータ集合中のデータ列との差の関数が、所望の第1の値以内かどうかの判別条件により第2のデータ集合中のデータ列を選別する第1の工程と、選別された第2の集合の限定された領域中のデータ列と第3のデータ列との差の関数が、第1の値より小さい第2の値以内かどうかの判別条件により限定された領域中のデータ列をさらに選別する第2工程と、を少なくとも有する。
Claim (excerpt):
第1のデータ集合と第2のデータ集合とがあり、該第1のデータ集合の中の第3のデータ列にもっとも近いデータ列を該第2のデータ集合の中から探索する場合、前記第3のデータ列と前記第2のデータ集合中のデータ列との差の関数が、所望の第1の値以内かどうかの判別条件により該第2のデータ集合中のデータ列を選別する第1の工程と、選別された第2の集合の限定された領域中のデータ列と前記第3のデータ列との差の関数が、前記第1の値より小さい第2の値以内かどうかの判別条件により該限定された領域中のデータ列をさらに選別する第2工程と、を少なくとも有することを特徴とする演算方式。
IPC (2):
G06T 7/00 ,  G06F 17/15
FI (3):
G06F 15/70 460 A ,  G06F 15/336 ,  G06F 15/62 415
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (23)
  • 特開平1-156880
  • 特開平4-023594
  • ステレオ画像処理方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-070377   Applicant:ダイハツ工業株式会社
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