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J-GLOBAL ID:200903087632758077
画像処理装置及び方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
青山 葆 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000141549
Publication number (International publication number):2001324385
Application date: May. 15, 2000
Publication date: Nov. 22, 2001
Summary:
【要約】【課題】 小さな対象画像について画像データを測定し処理できる画像処理装置を提供する。【解決手段】 画像処理装置において、反射率測定部は、測定対象物に対して分光反射率を画素単位で測定し、表示手段は、反射率測定部で測定された分光反射率データから構成される画像を表示する。指定手段は、表示手段に表示された画像について、ユーザーにより抽出するべき画像部分を指定し、抽出手段は、反射率測定部で測定された分光反射率データから、指定手段により指定された画像部分における平均分光反射率(色)を求める。
Claim (excerpt):
測定対象物に対して分光反射率を画素単位で測定する反射率測定部と、反射率測定部で測定された分光反射率データから構成される画像を表示する表示手段と、表示手段に表示された画像において、抽出するべき画像部分がユーザーにより指定される指定手段と、反射率測定部で測定された分光反射率データから、指定手段により指定された画像部分における平均分光反射率を求める抽出手段とからなる画像処理装置。
F-Term (8):
2G020AA08
, 2G020DA02
, 2G020DA03
, 2G020DA04
, 2G020DA05
, 2G020DA12
, 2G020DA31
, 2G020DA44
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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分光画像受像装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-069795
Applicant:株式会社生体光情報研究所
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画像処理係数決定方法、画像処理係数算出装置、画像処理装置、画像処理方法、および記憶媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-122483
Applicant:富士ゼロックス株式会社
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表面状態解析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-144018
Applicant:株式会社資生堂
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分光測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-350320
Applicant:株式会社島津製作所
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混合色材のK/Sパラメータ予測方法、色材の分光反射率測定方法、および、混合色材の色合わせ方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-140216
Applicant:住化カラー株式会社
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顕微分光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-267324
Applicant:日本分光株式会社
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