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J-GLOBAL ID：200903088104852807

濃度測定装置

Inventor： 原田 敏郎 ,  林 知幸 ,  矢野 宰平 ,  佐藤 茂雄 ,  今津 恒夫 ,  酒井 隆弘 ,  宮澤 裕三 ,  河野 謹一郎
Applicant, Patent owner： 東京都下水道サービス株式会社 ,  オルガノ株式会社 ,  巴工業株式会社 ,  株式会社明電舎 ,  株式会社オートマチック・システムリサーチ ,  芝浦システム株式会社 ,  宮澤 裕三
Agent (1)： 伴 俊光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001035012
Publication number (International publication number)：2002243640
Application date： Feb. 13, 2001
Publication date： Aug. 28, 2002
Summary：

【要約】【課題】 高い濁質成分濃度まで高感度で測定可能で、かつ、狭い場所や悪環境の場所にも直接濃度を検知するセンサー部を容易に設置することのできる、汚泥濃度の測定等に好適な濃度測定装置を提供する。【解決手段】 被測定液中の濁質成分の濃度を、被測定液中に向けて発光されたレーザー光の拡散反射光を検知することにより測定する装置において、少なくともレーザー光の発光器と受光器を有する本体部と、被測定液中に直接レーザー光を照射し被測定液中から直接反射光を受光する濃度検知部とを、分離して構成し、本体部と濃度検知部を可撓性光導体で連結したことを特徴とする濃度測定装置。

Claim (excerpt)：

被測定液中の濁質成分の濃度を、被測定液中に向けて発光されたレーザー光の拡散反射光を検知することにより測定する装置において、少なくともレーザー光の発光器と受光器を有する本体部と、被測定液中に直接レーザー光を照射し被測定液中から直接反射光を受光する濃度検知部とを、分離して構成し、本体部と濃度検知部を可撓性光導体で連結したことを特徴とする濃度測定装置。

F-Term (8)：

2G059AA01 ,  2G059BB06 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• 特開昭57-190254
  
• 特開昭57-190254
  
• 特開平1-165936
  
• 濁度検出器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-086512   Applicant：アレック電子株式会社
• 高感度光反射センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-286026   Applicant：日立電線株式会社
• 特開平2-173553
  
• 濃度測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-035012   Applicant：東京都下水道サービス株式会社, オルガノ株式会社, 巴工業株式会社, 株式会社明電舎, 株式会社オートマチック・システムリサーチ, 芝浦システム株式会社, 宮澤裕三