Pat
J-GLOBAL ID：200903088353968084

紫外線と近赤外線を使用した分光測定方法

Inventor：
横田 博

About 横田 博


Applicant, Patent owner：
倉敷紡績株式会社

About 倉敷紡績株式会社


Agent (1)： 青山 葆 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998302100
Publication number (International publication number)：2000131228
Application date： Oct. 23, 1998
Publication date： May. 12, 2000
Summary：
【要約】【課題】 紫外線吸光度データと近赤外線吸光度データからサンプルの特性値を正確に求める。【解決手段】 分光測定装置で、既知特性値のサンプルについて透過強度又は反射強度を紫外線と近赤外線の複数波長で測定し吸光度データを求める。複数波長の紫外線吸光度データを、紫外線分光に関係する装置変動に影響されないように変換し、また、複数波長の近赤外線吸光度データを、近赤外線分光に関係する装置変動に影響されないように変換する。次に、変換された紫外線のデータと近赤外線のデータの分散を一致させる。そして、変換され分散を一致させた紫外線と近赤外線のデータを説明変数として、サンプルの特性値(たとえば液体の濃度)を得るための重回帰式を求める。
Claim (excerpt)：
サンプルの透過強度または反射強度を紫外線分光過程と近赤外線分光過程により測定する分光測定装置において、既知特性値のサンプルの吸光度データを紫外線と近赤外線の複数波長で測定し、測定により得られた複数波長の紫外線吸光度データを、紫外線分光に関係する装置変動に影響されないように変換し、測定により得られた複数波長の近赤外線吸光度データを、近赤外線分光に関係する装置変動に影響されないように変換し、変換された紫外線と近赤外線のデータを説明変数として、サンプルの特性値を得るための重回帰式を求めることを特徴とする紫外線と近赤外線を使用した分光測定方法。
IPC (2)：
G01N 21/33 ,  G01N 21/35
FI (2)：
G01N 21/33 ,  G01N 21/35 Z
F-Term (10)：
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059HH01 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ03 ,  2G059MM02 ,  2G059MM12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 特開平3-209149
  • 透過光測定用光学装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-179881   Applicant：大日本スクリーン製造株式会社
  • 特開平4-249748
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM