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J-GLOBAL ID：200903088416821046

ホログラムの欠陥検出装置および欠陥検出方法

Inventor：
笠井 直樹

About 笠井 直樹

, 
小島 弘

About 小島 弘


Applicant, Patent owner：
凸版印刷株式会社

About 凸版印刷株式会社


Agent (8)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003031134
Publication number (International publication number)：2004239834
Application date： Feb. 07, 2003
Publication date： Aug. 26, 2004
Summary：
【課題】任意の品種のホログラムに対して効率的に、かつ精度良く欠陥を検出できるようにすること。【解決手段】本発明のホログラム欠陥検出装置によれば、ホログラム10の表面に対する法線方向を除く実質的な表面側全方向から検査光hを照射する光源18と、検査光hがホログラム10によって反射されてなる反射光から、検査光hがホログラム10によって回折されてなる回折光kを抽出するテレセントリックレンズ22と、テレセントリックレンズ22によって抽出された回折光kを撮像し、画像データを取得するカメラ24と、カメラ24によって取得された画像データと、予め撮像された基準画像データとに基づいて、ホログラム10に欠陥が有るか否かを判定する欠陥判定部44とを備えている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
ホログラムの欠陥を検出する装置であって、 前記ホログラムの表面に対する法線方向を除く実質的な表面側全方向から検査光を照射する検査光用光源と、 前記検査光が前記ホログラムによって反射されてなる反射光から、前記検査光が前記ホログラムによって回折されてなる回折光を抽出する回折光抽出手段と、前記回折光抽出手段によって抽出された回折光を撮像し、画像データを取得する撮像手段と、 前記撮像手段によって取得された画像データと、予め撮像された基準画像データとに基づいて、前記ホログラムに欠陥が有るか否かを判定する判定手段と を備えたホログラムの欠陥検出装置。
IPC (2)：
G01N21/88 ,  G01M11/00
FI (2)：
G01N21/88 Z ,  G01M11/00 T
F-Term (14)：
2G051AA90 ,  2G051AB07 ,  2G051BA04 ,  2G051BB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB06 ,  2G051CC09 ,  2G051EA16 ,  2G051ED01 ,  2G051ED23 ,  2G086EE06 ,  2K008AA00 ,  2K008CC01 ,  2K008EE04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
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