Pat
J-GLOBAL ID:200903088869971545
顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
大菅 義之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003272286
Publication number (International publication number):2005031507
Application date: Jul. 09, 2003
Publication date: Feb. 03, 2005
Summary:
【課題】 対物レンズの焦点の試料に対する位置を変化させても、カバーガラスや透過性の試料保持部材の厚さに起因する光学的な収差が適切に補正されるようにする。【解決手段】 PC110は、顕微鏡100に配置された試料105と顕微鏡100の有する対物レンズ104との間の距離に基づいて、試料105を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚みに起因する光学的な収差に対する補正量を決定する。補正環コントローラ101は、この決定された補正量に基づいたPC110からの制御指示に従って対物レンズ104の補正環の回転角度を変化させる制御を行って当該収差を補正する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
顕微鏡に配置された観察対象の試料と当該顕微鏡の有する対物レンズとの間の距離に基づいて、当該試料を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚みに起因する光学的な収差に対する補正量を決定する補正量決定手段と、
前記収差を補正する補正手段を前記補正量に基づいて制御する補正制御手段と、
を有することを特徴とする顕微鏡システム。
IPC (6):
G02B21/00
, G01B9/04
, G02B7/04
, G02B7/08
, G02B7/28
, G02B21/26
FI (7):
G02B21/00
, G01B9/04
, G02B7/08 A
, G02B7/08 C
, G02B21/26
, G02B7/11 J
, G02B7/04 C
F-Term (36):
2F064AA01
, 2F064FF01
, 2F064GG44
, 2F064HH03
, 2F064HH08
, 2F064MM04
, 2F064MM24
, 2F064MM32
, 2F064MM45
, 2H044BB05
, 2H044BB07
, 2H044DA01
, 2H044DB02
, 2H044DC02
, 2H044DE01
, 2H044DE06
, 2H051AA11
, 2H051CD12
, 2H051CD25
, 2H051FA03
, 2H051FA76
, 2H052AA08
, 2H052AB01
, 2H052AB04
, 2H052AB29
, 2H052AC16
, 2H052AC18
, 2H052AD05
, 2H052AD06
, 2H052AD16
, 2H052AD18
, 2H052AD27
, 2H052AF14
, 2H052AF17
, 2H052AF21
, 2H052AF25
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
-
共焦点レーザー走査顕微鏡及びその光学的断層像表示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-354207
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-242632
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
Cited by examiner (3)
-
球面収差を補正する装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-322849
Applicant:ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
-
顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-242632
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
対物レンズおよび光学装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-181622
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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