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J-GLOBAL ID：200903089051430294

蛍光免疫測定法

Inventor： 中山 浩 ,  宮崎 仁誠
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 滝本 智之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997093496
Publication number (International publication number)：1998282098
Application date： Apr. 11, 1997
Publication date： Oct. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 蛍光強度の変化(蛍光消光法、蛍光消光阻害法)により高分子量の物質、特に蛋白質を容易に測定するキットを提供する。【解決手段】 蛍光物質で標識した抗体を用いて、測定対象物を測定することにおいて標識抗体と測定対象物が凝集することにより起こる蛍光強度の減少を測定することを特徴とする蛍光免疫測定法、蛍光物質で標識した抗体と蛍光消光物質で標識した測定対象物質を用いて、検体中に測定対象物が存在することにより標識抗体と標識測定対象物の凝集を阻害する結果起こる蛍光強度の増加を測定することを特徴とする蛍光免疫測定法である。

Claim (excerpt)：

蛍光物質で標識した抗体を用いて、測定対象物を測定することにおいて標識抗体と測定対象物が凝集することにより起こる蛍光強度の減少を測定することを特徴とする蛍光免疫測定法。

IPC (3)：

G01N 33/542 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/533

FI (5)：

G01N 33/542 A ,  G01N 33/53 C ,  G01N 33/53 X ,  G01N 33/53 B ,  G01N 33/533

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 被検物質に向けられていない物質と共コーティングすることによる凝集試剤の反応性の修飾
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-027595   Applicant：ベーリングヴエルケ・アクチエンゲゼルシヤフト
• 免疫測定法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-221282   Applicant：東ソー株式会社