二次電池の出力劣化演算装置および方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：永井冬紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001241250
Publication number (International publication number)：2003057321
Application date： Aug. 08, 2001
Publication date： Feb. 26, 2003
Summary：

【要約】【課題】二次電池の劣化演算時の精度を向上させる【解決手段】二次電池の劣化時電池出力と初期電池出力との出力比から電池出力劣化を算出する二次電池の出力劣化演算装置は、二次電池1の開放電圧と、一定電流にて二次電池1を充電する時の電圧とに基づいて出力比を演算して、二次電池1の劣化を演算する。これにより、複数の電圧値と電流値をサンプリングして二次電池の劣化演算を行う方法に比べて、正確に二次電池1の劣化を演算することができる。

Claim (excerpt)：

二次電池の劣化時電池出力と初期電池出力との出力比から電池出力劣化を算出する二次電池の出力劣化演算方法において、前記二次電池の開放電圧を検出する手順と、一定電流にて前記二次電池を充電する時の電圧を検出する手順と、検出した前記二次電池の開放電圧と、前記一定電流にて前記二次電池を充電する時の電圧とに基づいて、前記出力比を演算する手順とを含むことを特徴とする二次電池の出力劣化演算方法。

IPC (4)：

G01R 31/36 , B60L 3/00 , H01M 10/48 ZHV , H02J 7/00

FI (4)：

G01R 31/36 A , B60L 3/00 S , H01M 10/48 ZHV P , H02J 7/00 X

F-Term (38)：

2G016CA03 , 2G016CB06 , 2G016CB11 , 2G016CB12 , 2G016CB31 , 2G016CC03 , 2G016CC04 , 2G016CC27 , 2G016CC28 , 5G003AA01 , 5G003AA07 , 5G003BA01 , 5G003CA02 , 5G003CC07 , 5G003DA07 , 5G003EA05 , 5G003EA08 , 5G003FA06 , 5G003GB03 , 5G003GB06 , 5G003GC05 , 5H030AA06 , 5H030AS08 , 5H030AS18 , 5H030BB03 , 5H030FF41 , 5H030FF43 , 5H115PA15 , 5H115PC06 , 5H115PG04 , 5H115PI16 , 5H115PU01 , 5H115PU21 , 5H115PV02 , 5H115PV09 , 5H115SE06 , 5H115TI05 , 5H115TI06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

Ni-MHバッテリの劣化度監視方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-157170 Applicant：本田技研工業株式会社

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