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J-GLOBAL ID：200903090209273246
SIR測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
斉藤 千幹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996349575
Publication number (International publication number)：1998190497
Application date： Dec. 27, 1996
Publication date： Jul. 21, 1998
Summary：
【要約】【課題】 簡単な構成及び演算でSIRを精度良く測定できるようにする。【解決手段】 希望波電力と雑音電力の比であるS/N比または希望波電力と干渉波電力の比であるS/I比を測定するSIR測定方法において、信号点位置変更部51は受信信号のI成分(同相成分)及びQ成分(直交成分)の絶対値をとって該受信信号をI-Q直交座標系の第1象限の信号に変換し、該変換された信号の平均値を二乗して第1の平均電力(希望波電力)Sを求め、受信電力演算部54は受信信号の二乗の平均値を演算して受信電力の平均値を求め、受信電力より希望波電力Sを減算して雑音電力あるいは干渉波電力Iを求め、SIR演算部57は希望波電力Sと雑音電力あるいは干渉波電力IよりS/N比あるいはS/I比を演算して出力する
Claim (excerpt)：
希望波電力と雑音電力の比であるS/N比または希望波電力と干渉波電力の比であるS/I比を測定するSIR測定装置において、I成分(同相成分)及びQ成分(直交成分)を含む受信信号をI-Q直交座標系の第1象限の信号に変換し、該変換された信号の平均値を二乗して第1の平均電力を演算する手段、受信信号の二乗の平均値を演算して第2の平均電力を演算する手段、前記第2の平均電力より第1の平均電力を減算して雑音電力あるいは干渉波電力を演算する手段、前記第1の平均電力を希望波電力とし、該希望波電力と前記雑音電力あるいは干渉波電力よりS/N比あるいはS/I比を演算して出力する手段を有することを特徴とするSIR測定装置。
IPC (4)：
H04B 1/10
, H04B 17/00
, H04J 13/00
, H04L 27/18
H04B 1/10 Z
, H04B 17/00 K
, H04L 27/18 A
, H04J 13/00 A
