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J-GLOBAL ID：200903090524550525

反射特性測定装置

Inventor： 藤澤 建三
Applicant, Patent owner： 株式会社クリプトン
Agent (1)： 須藤 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003271854
Publication number (International publication number)：2005030958
Application date： Jul. 08, 2003
Publication date： Feb. 03, 2005
Summary：

【課題】 投射光軸上に折り返される反射光を測定することを可能とする。また、計測点を変えたとき一定の投射計測距離を維持可能とする。【解決手段】 ビーム状に集束された光を出力する投射装置3Bと、投射装置3Bの出力側に、光軸に対して45 ゚傾けて配置された半透明ミラー5と、投射装置3の出力光が半透明ミラー5で90 ゚折り曲げ反射されてスクリーンの面に到達しスクリーンの面で反射して半透明ミラー5に到達し半透明ミラー5を透過する光を計測する輝度計7とよりなる。投射装置3と半透明ミラー5と輝度計7とを一体的に設けた。【選択図】 図4

Claim (excerpt)：

ビーム状に集束された光を出力する投射装置と、 該投射装置の出力側に、光軸に対して45 ゚傾けて配置された半透明ミラーと、 前記投射装置の出力光が前記半透明ミラーで90 ゚折り曲げ反射されて被測定体の面に到達し該被測定体の面で反射して前記半透明ミラーに到達し該半透明ミラーを透過する光を計測する輝度計とを備えたことを特徴とする反射特性測定装置。

IPC (3)：

G01M11/00 ,  G01J1/02 ,  G01J1/04

FI (3)：

G01M11/00 T ,  G01J1/02 T ,  G01J1/04 H

F-Term (16)：

2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051BB03 ,  2G051BB11 ,  2G051CA01 ,  2G051CA06 ,  2G051CB01 ,  2G051CC11 ,  2G065AA04 ,  2G065AB04 ,  2G065AB22 ,  2G065BB14 ,  2G065CA02 ,  2G065CA03 ,  2G065CA11 ,  2G086EE12

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 反射板検査装置および反射板検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-210304   Applicant：松下電器産業株式会社