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J-GLOBAL ID:200903090747787101

半導体レーザおよびその製法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 河村 洌 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994328339
Publication number (International publication number):1996186324
Application date: Dec. 28, 1994
Publication date: Jul. 16, 1996
Summary:
【要約】【目的】 半導体レーザにおいて、電流阻止層を選択的にエッチングできるものとし、製造プロセスの簡略化と量産性の向上をはかる。【構成】 GaAsおよびAlGaAsを主体とした半導体材料から構成される半導体レーザにおいて、電流阻止層にAlGaInPを用いる。
Claim (excerpt):
第1導電型のGaAs基板上に、第1導電型の下部クラッド層、活性層、第2導電型の上部第1クラッド層、ストライプ状の開口部を備えた第1導電型の電流阻止層および第2導電型の上部第2クラッド層が、順次積層されてなり、前記下部クラッド層、上部第1クラッド層および上部第2クラッド層、活性層の各々が、組成式:Al<SB>x</SB>Ga<SB>1-x</SB>As(xは、0≦x<1、ただし、活性層においては0≦x≦0.3の範囲内で層ごとに所定の値)で表される化合物半導体からなるとともに、前記電流阻止層が、組成式:(Al<SB>v</SB>Ga<SB>1-v</SB>)<SB>z </SB>In<SB>1-z</SB>P(zは約0.5)で表される化合物半導体からなる半導体レーザ。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 特開平2-213181
  • 半導体レーザ装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-279907   Applicant:松下電子工業株式会社
  • 半導体レーザ及びその製造方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-006949   Applicant:三洋電機株式会社
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