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J-GLOBAL ID：200903090891650595

パターン認識方法およびパターン認識装置

Inventor： 川谷 隆彦 ,  清水 裕之
Applicant, Patent owner： ヒューレット・パッカード・カンパニー
Agent (1)： 上野 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997030202
Publication number (International publication number)：1998240930
Application date： Feb. 14, 1997
Publication date： Sep. 11, 1998
Summary：

【要約】【課題】2つの認識系を結合して認識精度を向上する。【解決手段】所定のクラスの訓練パターンから抽出した特徴ベクトルに関連する第1の照合用ベクトルを第1の識別手段の識別辞書と照合し第1の相異値を得る。次に第1の相異値で定まる各クラスのライバルパターンと該クラスに属する訓練パターンにより変換用ベクトルを決定する。特徴ベクトルに変換用ベクトルにより変換した変換特徴ベクトルに関連する第2の照合用ベクトルを第2の識別手段の識別辞書と照合して第2の相異値を求める。ついで、第1、第2の相異値から前記訓練パターンのクラスを決定する。以上を繰り返し所定のクラスに属する全訓練パターンのクラスを決定する。全訓練パターンの認識率を高くするように第2の識別手段の識別辞書を最適化する。この学習で得られた変換用ベクトルと識別辞書によりクラスが未知のパターンのクラスの決定をおこなう。

Claim (excerpt)：

それぞれの識別辞書を備えた第1、第2の識別手段を有する装置において、(イ)所定のクラスの訓練パターンから抽出した特徴ベクトルに関連する第1の照合用ベクトルを第1の識別手段の識別辞書と照合し第1の相異値を得る工程と、(ロ)一つあるいは複数のクラスの第1の相異値で定まるライバルパターンと該クラスに属する訓練パターンにより変換用ベクトルを決定する工程と、(ハ)前記特徴ベクトルの少なくとも一部分に前記変換用ベクトルによる特徴変換を施した変換特徴ベクトルを含む前記特徴ベクトルに関連する第2の照合用ベクトルを第2の識別手段の識別辞書と照合して第2の相異値を求める工程と、(ニ)前記第1、第2の相異値から前記訓練パターンのクラスを決定する工程と、(ホ)所定のクラスに属する全訓練パターンのクラスを決定するため、前記(イ)乃至(ニ)の工程を繰り返す工程と、(ヘ)前記訓練パターンの属するクラスと前記決定されたクラスとからの前記訓練パターン集合の認識率求める工程と、(ト)前記認識率を高くするため第2の識別手段の識別辞書を変更して前記(ハ)乃至(へ)の工程を繰り返す工程とを有するパターン認識方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• パタン認識方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-343686   Applicant：日本電信電話株式会社
• パタン認識方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-183281   Applicant：日本電信電話株式会社

Cited by examiner (2)

• パタン認識方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-343686   Applicant：日本電信電話株式会社
• パタン認識方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-183281   Applicant：日本電信電話株式会社