表面欠陥検出方法および装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小杉佳男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995069777
Publication number (International publication number)：1996271442
Application date： Mar. 28, 1995
Publication date： Oct. 18, 1996
Summary：

【要約】【目的】本発明は、紙、鋼板、アルミ板などの走行する帯状の被検査物の表面に生ずる欠陥を光学的に検出する表面欠陥検出方法及びその装置に関し、被検査物に高さ変動がある場合でも、表面欠陥を正確に検出し、またその種類を正確に判定する。【構成】走行方向の相対的な位置ずれが被検査物の高さ変動量に基づいて補正された、各受光角度毎の位置補正撮像データを得、その位置補正撮像データに基づいて被検査物表面の欠陥を検出する。

Claim (excerpt)：

走行する被検査物の走行方向に交わる幅方向の一次元画像を、複数の一次元撮像器により、複数の受光角度から繰り返し撮像して各受光角度毎の撮像データを得、該撮像データに基づいて、被検査物表面の欠陥を検出する表面欠陥検出方法において、被検査物表面の高さ変動量に基づいて走行方向の相対的な位置ずれが補正された、各受光角度毎の位置補正撮像データを得、該位置補正撮像データに基づいて、被検査物表面の欠陥を検出することを特徴とする表面欠陥検出方法。

FI (2)：

G01N 21/89 A , G01N 21/89 B

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

特開平3-267745
特開昭55-087907
特開平4-320908

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