減衰全反射測定装置およびそれを用いた特定成分の測定方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：東島隆治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997229816
Publication number (International publication number)：1999064216
Application date： Aug. 26, 1997
Publication date： Mar. 05, 1999
Summary：

【要約】【課題】安いランニングコストで、高精度の測定が可能な減衰全反射測定装置を提供する。【解決手段】光源と、光源から入射した光を内部に進入させ、進入した光を表面で内部反射させる透明な板状のATR素子と、ATR素子より射出された光を検知する光検出器を備え、ATR素子が、光が内部反射する点に突出した突起部を有する。

Claim (excerpt)：

光源と、前記光源から入射した光を内部に進入させ、進入した前記光を表面で内部反射させる透明なATR素子と、前記ATR素子より出射された光を検知する光検出器を備え、前記ATR素子が、前記光が内部反射する箇所に突出した突起部を有する減衰全反射測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

非常に小さいサンプル接触面を持つ内反射体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-136985 Applicant：ドナルドダブリュースティング
赤外顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-133106 Applicant：株式会社島津製作所
特開昭63-129980

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