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J-GLOBAL ID：200903091659154979

蛍光強度検出装置

Inventor：
大坪 功

About 大坪 功


Applicant, Patent owner：
アイシン精機株式会社

About アイシン精機株式会社


Agent (3)： 富澤 孝 ,  山中 郁生 ,  岡戸 昭佳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004188329
Publication number (International publication number)：2006010515
Application date： Jun. 25, 2004
Publication date： Jan. 12, 2006
Summary：
【課題】 コンパクトで安価な蛍光強度検出装置を提供すること。【解決手段】 蛍光標識により標識された物質を含む検査媒体に励起光を照射し、励起され放射される蛍光を集光してその強度を検出するものであり、検査媒体を含む溶液を流す流路にその検査媒体を保持する保持体20を位置決めする位置決め部27を備えて形成され、光透過材からなる検出チップ1と、蛍光標識から放射される蛍光を集光させる集光レンズ2と、集光レンズ2で集光された蛍光の強度を検出する蛍光検出器4と、蛍光検出器4側から位置決め部27において位置決めされた保持体20の検査媒体に向かって、集光レンズ2により集光される蛍光の経路とは異なる経路で励起光を照射するように配置された励起光光源5と、を有する蛍光強度検出装置。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
蛍光標識により標識された物質を含む検査媒体に励起光を照射し、該励起光により励起された前記蛍光標識から放射される蛍光を集光して、該蛍光の強度を検出する蛍光強度検出装置であり、 前記検査媒体を含む溶液を流す流路に、その検査媒体を保持する保持体を位置決めする位置決め部を備えて形成され、前記励起光及び前記蛍光を透過する光透過材からなる検出チップと、 前記励起光により励起された前記蛍光標識から放射される蛍光を集光させる集光レンズと、 前記集光レンズで集光された蛍光が照射され、該蛍光の強度を検出する蛍光検出器と、 前記検出チップの前記蛍光検出器側から前記位置決め部において位置決めされた前記保持体の検査媒体に向かって、前記集光レンズにより集光される前記蛍光の経路とは異なる経路で前記励起光を照射するように配置された励起光光源と、 を有することを特徴とする蛍光強度検出装置。
IPC (3)：
G01N 21/64 ,  G01N 21/05 ,  G01N 33/543
FI (3)：
G01N21/64 F ,  G01N21/05 ,  G01N33/543 575
F-Term (22)：
2G043AA03 ,  2G043AA04 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043GA04 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043MA11 ,  2G057AA04 ,  2G057AB04 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB06 ,  2G057DB01 ,  2G057DB05 ,  2G057DC07
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 特開昭63-175768
  • 検定システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-337774   Applicant：サピダイン・インストゥルメンツ・インコーポレーテッド
  • 撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-245790   Applicant：富士写真フイルム株式会社
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