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J-GLOBAL ID：200903091722450494

自動分析方法及び装置

Inventor： 松原 茂樹 ,  今井 恭子 ,  田尾 龍治
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999027914
Publication number (International publication number)：2000227433
Application date： Feb. 04, 1999
Publication date： Aug. 15, 2000
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】校正試料の残量管理を自動的に行う自動分析方法及び装置を提供する。【解決手段】オペレ-タは校正試料のボトルを保持した検体ラックを検体ラック投入部に投入する(S1)。校正試料のIDは読み取られて記憶され(S2)、更にそれに対応する校正試料のデ-タも記憶される(S3)。オペレ-タは校正のためにどの測定チャンネルでどの分析項目を測定するかを入力する(S4)。校正試料が正しくセットされてあるかどうかは自動的にチェックされ(S5)、セットが不正の場合はセットし直す(S6)。依頼された校正回数と記憶されている校正可能回数とが比較され(S7)、後者が前者以上であるか否かの判断がなされる(S8)。その判断結果が否の場合は、校正可能回数と依頼数との差が表示される(S9)ので、オペレ-タは校正試料ボトルを必要な数だけ検体ラック投入部に追加投入し(S10)、分析開始ボタンを押す(S11)。

Claim (excerpt)：

校正試料を用いて校正を行い、その校正結果をベ-スにして、検体と試薬とを反応させてその反応液を測定する自動分析方法において、前記校正試料をボトル単位でセットすること、そのセットされた校正試料を、反応液との間の反応液を生成し、その生成された反応液の測定のために搬送すること、前記セットされた校正試料の校正可能回数を記憶しかつ表示することのステップを含む自動分析方法。

F-Term (14)：

2G058AA08 ,  2G058AA09 ,  2G058BB05 ,  2G058BB06 ,  2G058CB11 ,  2G058CD04 ,  2G058CE08 ,  2G058ED03 ,  2G058FA02 ,  2G058FA10 ,  2G058GA06 ,  2G058GC01 ,  2G058GD02 ,  2G058GD07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 自動分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-154422   Applicant：株式会社東芝