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J-GLOBAL ID：200903091831053934

放射線照射装置

Inventor：
木村 勝一

About 木村 勝一

, 
平野 剛

About 平野 剛


Applicant, Patent owner：
三菱電機株式会社

About 三菱電機株式会社


Agent (1)： 宮田 金雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999198469
Publication number (International publication number)：2001025501
Application date： Jul. 13, 1999
Publication date： Jan. 30, 2001
Summary：
【要約】【課題】 食品等の殺菌等を行う放射線照射において、被照射物全体での一様な線量分布の放射線照射を実現する。【解決手段】 本発明に係わる放射線照射装置は、被照射物の密度分布に基づき、前記被照射物への照射放射線の線量分布を照射線量計画値として計算する照射線量計画値計算手段1と、前記照射線量計画値に基づき、照射条件を決定する照射条件決定手段2と、前記照射条件に従い、放射線照射手段を制御する照射制御手段3と、被照射物を透過した照射放射線の線量を測定する線量検出手段4と、線量検出手段で測定された透過線量から被照射物への照射放射線の線量分布を照射線量実績値として計算する照射線量実測値計算手段5と、前記照射線量計画値と照射線量実績値とを比較し、その比較結果に基づき、放射線照射を制御する判定手段6とを備えた。
Claim (excerpt)：
放射線照射手段から放射線を被照射物に照射し、処理を行う放射線照射装置において、被照射物の密度分布に基づき、前記被照射物への照射放射線の線量分布を照射線量計画値として計算する照射線量計画値計算手段と、前記照射線量計画値に基づき、照射条件を決定する照射条件決定手段と、前記照射条件に従い、放射線照射手段を制御する照射制御手段と、被照射物を透過した照射放射線の線量を測定する線量検出手段と、線量検出手段で測定された透過線量から被照射物への照射放射線の線量分布を照射線量実績値として計算する照射線量実測値計算手段と、前記照射線量計画値と照射線量実績値とを比較し、その比較結果に基づき、放射線照射を制御する判定手段とを備えたことを特徴とする放射線照射装置。
IPC (3)：
A61L 2/08 ,  A23L 3/26 ,  A61N 5/10
FI (3)：
A61L 2/08 ,  A23L 3/26 ,  A61N 5/10 Q
F-Term (18)：
4B021LA01 ,  4B021LP10 ,  4B021LT03 ,  4B021LT06 ,  4B021LW02 ,  4B021LW07 ,  4B021LW09 ,  4C058AA16 ,  4C058AA21 ,  4C058BB06 ,  4C058DD12 ,  4C058KK03 ,  4C058KK32 ,  4C082AC02 ,  4C082AC06 ,  4C082AG02 ,  4C082AP02 ,  4C082AP03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 物体に供給された放射線の検査装置および方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-114692   Applicant：シーメンスメディカルシステムズインコーポレイテッド
  • 特開平4-108451
  • 特開平1-198567
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