Pat
J-GLOBAL ID:200903091861076181
分析システムの精度管理方法、費用管理方法、在庫管理方法、並びに運用管理方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
杉村 興作
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002078849
Publication number (International publication number):2003279583
Application date: Mar. 20, 2002
Publication date: Oct. 02, 2003
Summary:
【要約】【課題】 分析装置の障害を未然に防ぐとともに、患者検体の測定データに対する信頼性を十分に確保できる分析システムの精度管理方法を提供する。【解決手段】 分析装置2が測定データを出力するまでの当該データに関わる分析装置2の状態監視データを精度管理データと共にネットワーク3を介して情報端末1に送信し、情報端末1側ではこれまでの当該分析装置2に関わる状態監視データの推移などを参照しながら、精度管理データの信頼性を評価した上で統計結果を分析装置2に対応するネットワーク接続装置4に返信する。
Claim (excerpt):
分析装置を含む分析システムを情報端末に接続して、上記分析システムの精度を管理するにあたり、上記分析装置から、所定の精度管理試料を測定した精度管理データと、患者検体を測定した患者データに連動した検体No.および分析項目と、精度管理試料および患者検体を測定した際の一連の状態監視データとを受信して蓄積し、その蓄積したデータのうち、上記精度管理データと、該精度管理データを測定する際の状態監視データとについては、精度管理試料毎に集計して、その精度管理データの集計結果と、状態監視データの所定の管理範囲内での推移の傾向または状態監視データ間の演算結果とに基づいて当該分析装置の異常検出を自動的に行なって、所定期間内に受信した上記精度管理データの集計結果、上記異常検出結果、当該異常検出結果の推定原因およびその推奨される対策処置方法を提供し、上記蓄積したデータのうち、上記患者検体を測定した患者データに連動した検体No.および分析項目と、患者検体を測定した際の一連の状態監視データとについては、検体No.および分析項目毎に集計して、その状態監視データの所定の管理範囲内での推移の傾向または状態監視データ間の演算結果に基づいて当該分析装置の異常検出を自動的に行なって、所定期間内に受信した上記患者データに連動した検体No.および分析項目、上記異常検出結果、当該異常検出結果の推定原因およびその推奨される対策処置方法を提供する、ことを特徴とする分析システムの精度管理方法。
IPC (7):
G01N 35/00
, B65G 1/137
, B65G 61/00 426
, B65G 61/00 434
, G06F 17/60 126
, G08C 15/00
, G08C 19/00
FI (8):
G01N 35/00 F
, G01N 35/00 A
, B65G 1/137 A
, B65G 61/00 426
, B65G 61/00 434
, G06F 17/60 126 E
, G08C 15/00 E
, G08C 19/00 V
F-Term (26):
2F073AA19
, 2F073AA40
, 2F073AB01
, 2F073AB02
, 2F073AB03
, 2F073BB20
, 2F073CC01
, 2F073CC14
, 2F073CC15
, 2F073CC20
, 2F073DD02
, 2F073GG01
, 2F073GG08
, 2F073GG10
, 2G058CD02
, 2G058GD01
, 2G058GD05
, 2G058GE09
, 2G058HA04
, 3F022MM08
, 3F022MM28
, 3F022MM30
, 3F022MM32
, 3F022MM35
, 3F022MM61
, 3F022PP04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
-
自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-266044
Applicant:株式会社日立製作所
-
データ管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-036866
Applicant:富士通株式会社
-
自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-270943
Applicant:株式会社日立製作所
-
サポート方法、精度管理方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-364452
Applicant:シスメックス株式会社
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