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J-GLOBAL ID:200903091915690018
高速な粒子検出分析
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
谷 義一
, 阿部 和夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009000853
Publication number (International publication number):2009186459
Application date: Jan. 06, 2009
Publication date: Aug. 20, 2009
Summary:
【課題】流体試料内の分析物を検出および/または定量化するための機器と方法を提供する。【解決手段】流体試料は、小さくて狭い検出領域を有する試料室内に置かれる。分析物は、結合試薬で被覆された磁性粒子を用いて磁気的に標識化され、蛍光染料または他の検出試薬を用いて検出可能なように標識化される。磁気的に標識化された分析物は、試料室の検出領域の下に配置された集束性磁石を用いて検出領域に濃縮される。濃縮された分析物は、試料室の検出領域の最上部上に置かれた、検出領域だけを照射する励起光学系と、検出領域の上部に置かれ、検出領域から放出される光だけを検出する検出光学系を用いて測定される。好適なる実施形態では、本発明は、全血液試料の中のCD4+T細胞の濃度を測定するための、簡単で迅速な分析を提供する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
流体試料に含まれる分析物の分析をするための光学機器であって、
約100μl未満の体積を有する試料室、および、約100μm未満の垂直深さを有する検出領域を備える試料ホルダであって、前記試料室の前記検出領域上の最上面が、光学的に透明である試料ホルダと、
傾斜した磁極片を有する集束性磁石であって、前記磁極片は、約100μm未満にまで傾斜し、前記集束性磁石は、前記試料室の前記検出領域の下に配置されている集束性磁石と、
前記試料室の前記検出領域上の前記光学的に透明な最上面を通して、前記検出領域を照射する励起光源と、
前記検出領域から、前記試料室の前記検出領域上の前記光学的に透明な最上面を通って放出された光を検出し、検出された光の量に対応する信号を発生する検出光学系と
を備えたことを特徴とする光学機器。
IPC (3):
G01N 21/64
, G01N 33/543
, G01N 33/53
FI (4):
G01N21/64 F
, G01N33/543 541A
, G01N33/543 575
, G01N33/53 Y
F-Term (17):
2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA01
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043GA07
, 2G043GB02
, 2G043GB13
, 2G043GB16
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043LA02
, 2G043LA03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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