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J-GLOBAL ID：200903091918332228

電磁波解析プログラム、電磁波解析装置および電磁波解析方法

Inventor： 泉 裕友
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 服部 毅巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006090034
Publication number (International publication number)：2007263789
Application date： Mar. 29, 2006
Publication date： Oct. 11, 2007
Summary：

【課題】波源解析領域内の精度検証のみを考慮することで、電磁波発生源外の電磁波を高精度に解析することができるようにする。【解決手段】解析条件取得手段2により、電磁界を解析すべき観測点の位置を示す位置情報と、解析すべき周波数を示す周波数情報とを含む解析条件の入力が受け付けられる。解析条件取得手段2が解析条件を取得すると、フーリエ変換手段3により、時系列電磁流データのフーリエ変換が行われ、周波数情報で示される周波数毎の周波数別電磁流データが生成される。そして、電磁界計算手段4により、フーリエ変換手段3で生成された周波数別電磁流データに基づいて電磁波発生源内の微少領域内の電流および磁流が観測点に与える電界が電磁波発生源内の全体にわたって積分され、周波数情報で示される周波数毎の観測点における電界が計算される。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

電磁流データに基づいて電磁波解析を行う電磁波解析プログラムにおいて、 コンピュータに、 電磁波発生源の電流情報と磁流情報との時間変化を示す時系列電磁流データを記憶する電磁流データ記憶手段、 電磁界を解析すべき観測点の位置を示す位置情報と、解析すべき周波数を示す周波数情報とを含む解析条件の入力を受け付ける解析条件取得手段、 前記解析条件取得手段が前記解析条件を取得すると、前記時系列電磁流データのフーリエ変換を行い、前記周波数情報で示される周波数毎の周波数別電磁流データを生成するフーリエ変換手段、 前記位置情報に基づいて前記観測点の位置を判断し、前記フーリエ変換手段で生成された前記周波数別電磁流データに基づいて前記電磁波発生源内の微少領域内の電流および磁流が前記観測点に与える電界を前記電磁波発生源内の全体にわたって積分し、前記周波数情報で示される周波数毎の前記観測点における電界を計算する電磁界計算手段、 として機能させることを特徴とする電磁波解析プログラム。

IPC (2)：

G01R 29/06 ,  G06F 17/50

FI (2)：

G01R29/06 Z ,  G06F17/50 612H

F-Term (2)：

5B046AA07 ,  5B046JA10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 電磁界特性解析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-028581   Applicant：株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ