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J-GLOBAL ID：200903092070088026

小片の品質分析のために小片を照射する装置および方法

Inventor：
エルランド、ライデ

About エルランド、ライデ

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イェーラン、ペルソン

About イェーラン、ペルソン

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ニルス、ウィールボリ

About ニルス、ウィールボリ


Applicant, Patent owner：
フォス、アナリティカル、アクチボラグ

About フォス、アナリティカル、アクチボラグ


Agent (4)： 吉武 賢次 ,  永井 浩之 ,  岡田 淳平 ,  勝沼 宏仁
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003521341
Publication number (International publication number)：2005500533
Application date： Jul. 19, 2002
Publication date： Jan. 06, 2005
Summary：
穀類および農作物等からの穀粒のような小片の品質分析のために、小片を照射する装置は、サンプルホルダーを有し、それぞれ少なくとも1つの小片を有する小片サンプル(2)をサンプルホルダー内に載置するとともに小片サンプル(2)を照射位置(34)へ移送するようになっているサンプル送り込み支持機構(30)を備えている。装置は、小片サンプル(2)に照射する電磁放射線を放つ放射線機構(36)と、放射線ガイド(22)とをさらに備えている。放射線ガイド(22)は、サンプル送り込み支持機構(30)に取り付けられ、小片サンプル(2)が照射位置(34)へ送り込まれた場合に、放射線機構(36)により放たれた放射線をサンプルホルダー(1)内の小片サンプルへ導く。
Claim (excerpt)：
穀類および農作物等からの穀粒のような小片の品質分析のために、小片を照射する装置おいて、 サンプルホルダー(1)を有し、それぞれ少なくとも1つの小片を有する小片サンプル(2)をサンプルホルダー(1)内に載置するとともに小片サンプル(2)を照射位置(34)へ移送するようになっているサンプル送り込み支持機構(30)と、 小片サンプル(2)に照射する電磁放射線を放つ放射線機構(36)と、 サンプル送り込み支持機構(30)に取り付けられ、小片サンプル(2)が照射位置(34)へ送り込まれた場合に、放射線機構(36)により放たれた放射線をサンプルホルダー(1)内の小片サンプルへ導く放射線ガイド(22)とを備えたことを特徴とする小片を照射する装置。
IPC (1)：
G01N21/85
FI (1)：
G01N21/85 A
F-Term (9)：
2G051AA04 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA08 ,  2G051BB17 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA17 ,  2G051EC01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (4)
  • 胴割れ米の検出方法と装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-107086   Applicant：株式会社ニレコ
  • 米粒判別装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-208646   Applicant：株式会社ケット科学研究所
  • 特開昭57-186159
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