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J-GLOBAL ID:200903092485569976

画像処理装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 曾我 道照 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997078462
Publication number (International publication number):1998274626
Application date: Mar. 28, 1997
Publication date: Oct. 13, 1998
Summary:
【要約】【課題】 検査対象物の形状のばらつきや、検査対象物の画像の見え方のバラツキがあっても欠陥を誤報することなく精度良く検査対象物の欠陥を検査できる画像処理装置を得る。【解決手段】 教示用サンプルおよび検査対象物を個々に撮像するカメラ1と、カメラ1によって撮像された教示用サンプルTSの画像である教示画像から固有画像データを生成すると共に、撮像された検査対象物の画像である検査画像と生成された固有画像データから近似画像を復元し、検査画像と近似画像との差画像を生成して2値化し、この2値化された画像を粒子解析し検査対象物の良否判定するCPU5とを備えている。
Claim (excerpt):
教示用サンプルおよび検査対象物を個々に撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された教示用サンプルの画像である教示画像から固有画像データを生成する固有画像データ生成手段と、前記撮像された検査対象物の画像である検査画像と前記生成された固有画像データから近似画像を復元する近似画像復元手段と、前記検査画像と前記近似画像との差画像を生成する差画像生成手段と、この生成された差画像を2値化する2値化手段と、2値画像を粒子解析し前記検査対象物の良否判定する判定手段とを備えたことを特徴とする画像処理装置。
IPC (2):
G01N 21/88 ,  G06T 7/00
FI (3):
G01N 21/88 J ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 460 B
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • パターン認識方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-114807   Applicant:三菱電機株式会社

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