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J-GLOBAL ID：200903092621112527

診断装置

Inventor：
佐藤 英樹

About 佐藤 英樹


Applicant, Patent owner：
ソニー株式会社

About ソニー株式会社


Agent (1)： 田辺 恵基
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004071251
Publication number (International publication number)：2005258931
Application date： Mar. 12, 2004
Publication date： Sep. 22, 2005
Summary：
【課題】 本発明は、機能の異なる複数種類の電子機器を容易に診断し得るようにする。【解決手段】 本発明は、診断装置2に対して、電子機器3、4及び5の診断の際に外部からその電子機器3、4及び5専用の診断プログラムを提供して当該診断プログラムに従って電子機器3、4及び5に対する診断処理を実行させるようにしたことにより、機能の異なる何れの電子機器3、4及び5を診断するときでも、診断装置2を、外部から提供した電子機器3、4及び5専用の診断プログラムに従って当該電子機器3、4及び5専用の診断装置2として機能させることができ、かくして機能の異なる複数種類の電子機器3、4及び5を容易に診断することができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
電子機器を診断する診断装置の診断方法であって、 外部で送信される診断対象の上記電子機器専用の診断プログラムを受信するプログラム受信ステップと、 上記受信された上記診断プログラムに従って上記電子機器に対する診断処理を開始する診断処理開始ステップと、 上記診断処理として、上記電子機器に所定処理を実行させるように指示する指示信号を送信する指示信号送信ステップと、 上記診断処理として、上記指示信号の送信に応じて上記電子機器から上記所定処理の実行の結果返信される返信情報を受信する返信情報受信ステップと、 上記診断処理として、上記受信された上記返信情報に基づく上記電子機器の診断結果を表示する表示ステップと を具えることを特徴とする診断方法。
IPC (3)：
G06F13/00 ,  G06F9/445 ,  G06F11/22
FI (4)：
G06F13/00 530R ,  G06F11/22 320D ,  G06F11/22 330H ,  G06F9/06 640A
F-Term (8)：
5B048AA10 ,  5B048AA14 ,  5B048AA15 ,  5B048BB01 ,  5B048DD02 ,  5B048FF06 ,  5B076BB06 ,  5B076BB17
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (6)
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