Pat
J-GLOBAL ID:200903094009245146

光ファイバセンサ及び光ファイバセンサ多点計測システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 栗原 聖
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000014145
Publication number (International publication number):2001201411
Application date: Jan. 19, 2000
Publication date: Jul. 27, 2001
Summary:
【要約】【課題】小型で安価に製造でき、屈曲型の光ファイバを用いて、温度の影響を受けにくく高精度なひずみ、力、応力、変位等の物理量の計測を行うことができる光ファイバセンサ、及び該光ファイバセンサを複数個用いてひずみ等の多点計測を行うことが可能な光ファイバセンサ多点計測システムを提供することにあり、また、該光ファイバセンサ多点計測システムをトンネルの落盤・崩落等の危険を検知するために用いること【解決手段】 光ファイバ式ひずみゲージ1は、H型の空隙部13が形成されて全体として矩形状を有するゲージベース10と、ゲージベース10の長手方向に沿ってH型の空隙部13内に所定の間隔Gをおきつつ、偏芯せずに略直線的に形成された第1の溝12及び第2の溝14と、第1及び第2の溝12及び14内に配置され間隔G内に屈曲部16Aを有する光ファイバ16とを有している。第1及び第2の溝12及び14の幅寸法は、前記光ファイバの外径(直径)寸法dの3.2倍(3.2d)の大きさに形成されている。
Claim (excerpt):
構造体の一方向に沿って所定の間隔をおいて偏芯せずに略直線的に形成された第1及び第2の溝と、該第1及び第2の溝に配置され前記間隔内に屈曲部を有する少なくとも1本の光ファイバとを有し、前記第1及び第2の溝の幅寸法は、前記光ファイバの外径寸法の少なくとも2倍の大きさに形成されていることを特徴とする光ファイバセンサ。
IPC (4):
G01L 1/24 ,  G01B 11/16 ,  G01D 21/00 ,  G02B 6/00 346
FI (4):
G01L 1/24 A ,  G01B 11/16 Z ,  G01D 21/00 D ,  G02B 6/00 346
F-Term (11):
2F065AA65 ,  2F065CC23 ,  2F065FF41 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL02 ,  2F076BA01 ,  2F076BB09 ,  2F076BD06 ,  2H038AA03 ,  2H038AA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page