自由空間の電磁放射を特徴づけるための電気光学及び磁気光学感知装置及び方法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：吉岡宏嗣 (外2名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997542939
Publication number (International publication number)：2000514549
Application date： May. 30, 1997
Publication date： Oct. 31, 2000
Summary：

【要約】リアルタイム2次元遠赤外画像用途に適した、自由空間電磁エネルギーを特徴づける装置と方法。感知手法は、低周波数電場または磁場(12)と、電気光学または磁気光学結晶(14,32または54)のレーザービーム(16)との間の非線形接続に基づいている。逆方向伝搬感知手法(図1)、及び共線形感知手法(図4と13)が、長い放射及び光学ビームの相互作用距離について述べられており、画像の適用を現実的なものにしている。

Claim (excerpt)：

自由空間電磁場を特徴づける電気光学センサーであり、電磁場が通過し、それにより、その屈折率を変化するように、位置付けられた電気光学結晶と、通過する自由空間電磁場と同期して電気光学結晶に当たるような光学プローブ信号の発生手段と、電気光学結晶当たった後、光学プローブ信号の楕円変調を決定する感知手段と、光学プローブ信号の楕円変調を評価することにより、自由空間電磁場を特徴づける手段とからなる前記電気光学センサー。

IPC (4)：

G01R 33/032 , G01J 4/00 , G01N 21/21 , G01R 29/08

FI (5)：

G01R 33/032 , G01J 4/00 , G01N 21/21 A , G01N 21/21 Z , G01R 29/08 F

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特表平7-501888
電気光学的電界測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-327519 Applicant：京セラ株式会社
特開平4-339274

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