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J-GLOBAL ID：200903094146794262

分光光度計

Inventor： 酒井 真澄
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994238006
Publication number (International publication number)：1996101121
Application date： Sep. 30, 1994
Publication date： Apr. 16, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 比較的安価で測定時間の短い分光光度計というユーザの要求に合致した分光光度計を提供すること。【構成】 試料側光路と対照側光路のそれぞれに検出器7、8を設け、かつ、これら検出器7、8からの試料側信号及び対照側信号がA/D変換器12に入力される前に増幅器9、10を設けると共に、試料側信号及び対照側信号に対し適正な増幅率を設定する手段13を備えた。上記増幅率としては、1及び次の式を満たすような増幅率Gが選択される。ここに、増幅率が1の場合には検出器の出力レベルがA/D変換器12の入力レベルに収まるようになっているものとする。(r/2b )≦G≦2b r :試料側又は対照側測光値の目的分解能2b :A/D変換器の分解能

Claim (excerpt)：

試料側光路に試料信号を検出する検出器とこの検出器からの出力信号を増幅する増幅器、及び対照側光路に対照信号を検出する検出器とこの検出器からの出力信号を増幅する増幅器、をそれぞれ設置すると共に、これら増幅器の増幅率を独立に設定する手段を備えたことを特徴とする分光光度計。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/59

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• ガス分析計の調整方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-186244   Applicant：株式会社堀場製作所
• ダブルビーム分光光度計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-267140   Applicant：株式会社島津製作所