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J-GLOBAL ID：200903094340985540

診断支援装置

Inventor： 西村 博一 ,  山▲崎▼ 健二 ,  後野 和弘
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996157080
Publication number (International publication number)：1998014864
Application date： Jun. 18, 1996
Publication date： Jan. 20, 1998
Summary：

【要約】【課題】 撮像条件の違いによる影響の少ない特徴量等を算出し、この特徴量を用いることにより、安定した自動診断結果を得る。【解決手段】 診断支援装置における診断支援処理実行プログラム70の特徴量算出ブロック74は、1枚の内視鏡画像中に設定したROIにおける2個以上の組み合わせによりROI間相互特徴量を算出することで、異なる病変間の正常粘膜に対する相対的な差異を評価する。すなわち、同一画像中における複数のROIから算出される特徴量の相対的な値を求めることにより、撮像条件のばらつきに影響されない判別分類を可能とする。

Claim (excerpt)：

少なくとも1つの信号からなる画像データを入力する画像入力手段と、入力された前記画像データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段により記録された前記画像データに対して少なくとも1つの関心領域を設定する関心領域設定手段と、前記関心領域設定手段により設定された前記関心領域から特徴量を算出する特徴量算出手段と、前記特徴量算出手段により算出された特徴量を用いた病変の判別分類を行う判別分類手段とを備えたことを特徴とする診断支援装置。

IPC (4)：

A61B 1/04 370 ,  G06F 19/00 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00

FI (4)：

A61B 1/04 370 ,  G06F 15/42 A ,  G06F 15/62 390 D ,  G06F 15/70 330 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開平4-193254
  
• 画像解析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-314889   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

Cited by examiner (4)

• 特開平4-193254
  
• 特開平4-193254
  
• 特開平4-193254
  
• 画像解析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-314889   Applicant：オリンパス光学工業株式会社