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J-GLOBAL ID：200903094440511848

レーザ光を用いた微量成分測定方法及びその装置

Inventor：
出口 祥啓

About 出口 祥啓

, 
山浦 剛俊

About 山浦 剛俊


Applicant, Patent owner：
三菱重工業株式会社

About 三菱重工業株式会社


Agent (1)： 高橋 昌久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001314336
Publication number (International publication number)：2003121360
Application date： Oct. 11, 2001
Publication date： Apr. 23, 2003
Summary：
【要約】【課題】 レーザ光のプラズマ化により被測定物質中の微量成分を検出するにあたり、簡単な手順かつ短時間で以って、プラズマ信号中におけるノイズの発生を抑制して微量成分濃度の検出を高精度で行い得る微量成分測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 レーザ光を被測定物質に集光し該物質中の微量成分のプラズマ光により前記微量成分を検出するにあたり、被測定物質中の微量成分を吸着材に吸着させ、該吸着材の表面にレーザ光を集光して前記微量成分のプラズマ光を信号光として取り出し微量成分の濃度を検出することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
レーザ光を被測定物質に集光し、該被測定物質中の重金属等の微量成分をプラズマ化させてそのプラズマ光を分光することにより前記被測定物質中の微量成分を検出するレーザ光を用いた微量成分測定方法において、前記被測定物質中の微量成分を吸着材に吸着させ、次いで該吸着材の表面にレーザ光を集光して前記微量成分をプラズマ化させ、そのプラズマ光を信号光として取り出して前記微量成分の濃度を検出することを特徴とするレーザ光を用いた微量成分測定方法。
IPC (2)：
G01N 21/63 ,  G01N 1/22
FI (2)：
G01N 21/63 A ,  G01N 1/22 L
F-Term (32)：
2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043BA03 ,  2G043BA04 ,  2G043BA06 ,  2G043BA07 ,  2G043CA02 ,  2G043CA03 ,  2G043CA05 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA10 ,  2G043GA02 ,  2G043GB19 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01 ,  2G052AA02 ,  2G052AB01 ,  2G052AB27 ,  2G052AC25 ,  2G052AD04 ,  2G052AD52 ,  2G052BA21 ,  2G052ED03 ,  2G052GA15 ,  2G052JA09 ,  2G052JA13
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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