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J-GLOBAL ID:200903094440511848
レーザ光を用いた微量成分測定方法及びその装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高橋 昌久 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001314336
Publication number (International publication number):2003121360
Application date: Oct. 11, 2001
Publication date: Apr. 23, 2003
Summary:
【要約】【課題】 レーザ光のプラズマ化により被測定物質中の微量成分を検出するにあたり、簡単な手順かつ短時間で以って、プラズマ信号中におけるノイズの発生を抑制して微量成分濃度の検出を高精度で行い得る微量成分測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 レーザ光を被測定物質に集光し該物質中の微量成分のプラズマ光により前記微量成分を検出するにあたり、被測定物質中の微量成分を吸着材に吸着させ、該吸着材の表面にレーザ光を集光して前記微量成分のプラズマ光を信号光として取り出し微量成分の濃度を検出することを特徴とする。
Claim (excerpt):
レーザ光を被測定物質に集光し、該被測定物質中の重金属等の微量成分をプラズマ化させてそのプラズマ光を分光することにより前記被測定物質中の微量成分を検出するレーザ光を用いた微量成分測定方法において、前記被測定物質中の微量成分を吸着材に吸着させ、次いで該吸着材の表面にレーザ光を集光して前記微量成分をプラズマ化させ、そのプラズマ光を信号光として取り出して前記微量成分の濃度を検出することを特徴とするレーザ光を用いた微量成分測定方法。
IPC (2):
FI (2):
G01N 21/63 A
, G01N 1/22 L
F-Term (32):
2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043BA03
, 2G043BA04
, 2G043BA06
, 2G043BA07
, 2G043CA02
, 2G043CA03
, 2G043CA05
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043EA10
, 2G043GA02
, 2G043GB19
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043MA01
, 2G043NA01
, 2G052AA02
, 2G052AB01
, 2G052AB27
, 2G052AC25
, 2G052AD04
, 2G052AD52
, 2G052BA21
, 2G052ED03
, 2G052GA15
, 2G052JA09
, 2G052JA13
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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溶鋼成分のレ-ザ分析方法及びレ-ザ分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-102493
Applicant:日本鋼管株式会社
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金属材料表面の欠陥原因判定方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-211167
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
レーザ励起プラズマ発光分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-050133
Applicant:株式会社島津製作所
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ガスの直接分析装置の安全装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-014875
Applicant:三菱重工業株式会社
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Cited by examiner (4)