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J-GLOBAL ID：200903094541260609

露出制御システムを含むX線検査装置

Inventor： カンプス,ヒュベルト アナ ジョ
Applicant, Patent owner： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
Agent (1)： 伊東 忠彦 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998529375
Publication number (International publication number)：2000512799
Application date： Mar. 23, 1998
Publication date： Sep. 26, 2000
Summary：

【要約】X線検査装置は、X線像から映像信号を得るX線検出器(1)と、X線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含む。露出制御システムは、X線像の輝度値のヒストグラムを形成し、ヒストグラムから主として着目画像情報を表現する輝度値に関係する画像成分を抽出する算術ユニット(4)を含む。露出制御システムは、画像成分に基づいてX線検査装置を調節するよう構成される。

Claim (excerpt)：

X線像を受信するX線検出器(1)と、 X線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含むX線検査装置において、 上記露出制御システム(2)は、 上記X線像の輝度値のヒストグラムを形成し、 上記ヒストグラムから主として着目画像情報を表現する輝度値に関係する画像成分を抽出する算術ユニット(4)を含み、 上記露出制御システムは、上記画像成分に基づいてX線検査装置を調節するよう構成されていることを特徴とするX線検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• ディジタル式X線検出器用の輝度検出を行う方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-134045   Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
• 特開平3-206572
  
• 自動x線露光装置の作動方法および自動x線露光装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-216340   Applicant：シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト