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J-GLOBAL ID:200903094696564558
パターンマッチング方法及び装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
河野 登夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000023201
Publication number (International publication number):2001216470
Application date: Jan. 31, 2000
Publication date: Aug. 10, 2001
Summary:
【要約】【課題】 擦れ,滲み,印字むら,及び細り等に影響され難いパターンマッチング方法及びその実施に使用する装置を提供する。【解決手段】 マッチング候補となる辞書データ(パターン画像)を膨張処理するとともに、前記パターン画像を収縮処理し(ステップ13)、これら膨張及び収縮画像の差分画像を求め(ステップ15)、差分画像に基づいてマスク画像を生成し(ステップ16)、生成したマスク画像以外の領域の画素について、認識対象となる文字を含む画像を前記パターン画像に基づいてマッチング処理する構成とした。
Claim (excerpt):
マッチング候補となる予め設定されたパターン画像を膨張処理することによって第1パターン画像を生成し、前記パターン画像を収縮処理することによって第2パターン画像を生成するか又は前記パターン画像を前記第2パターン画像とし、前記第1及び第2パターン画像の差分画像を求め、求めた差分画像に基づいてマスク画像を生成し、生成したマスク画像以外の領域の画素について、認識対象となる文字を含む画像を前記パターン画像に基づいてマッチング処理することを特徴とするパターンマッチング方法。
IPC (2):
FI (2):
G06K 9/62 D
, G06F 15/70 455 A
F-Term (15):
5B064AA05
, 5B064CA02
, 5B064CA12
, 5B064CA13
, 5B064DA22
, 5B064DB18
, 5L096BA17
, 5L096EA02
, 5L096EA12
, 5L096EA39
, 5L096FA06
, 5L096GA08
, 5L096GA10
, 5L096HA09
, 9A001HH22
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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テンプレート作成装置及びパターン認識装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-171509
Applicant:オムロン株式会社
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マーク認識装置およびマーク認識方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-260210
Applicant:三菱電機株式会社
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文字認識装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-219070
Applicant:沖電気工業株式会社
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特定色領域抽出方式および特定色領域除去方式
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-226350
Applicant:株式会社東芝
-
特開平3-240892
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