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J-GLOBAL ID:200903094716008142

MOS電界効果トランジスタ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001269297
Publication number (International publication number):2002158353
Application date: Sep. 05, 2001
Publication date: May. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】高周波でのスイッチング損失が低減でき、オン抵抗が低いMOS電界効果トランジスタを提供する。【解決手段】MOS電界効果トランジスタは、第1主面とこの第1主面に対向する第2主面を有するp+ 型半導体基板11と、この基板11の第1主面上に形成されたp- 型エピタキシャル層12と、このp- 型層12に、互いに離間して形成されたn+ 型拡散領域17A、17Bと、n+ 型領域17Aとn+ 型領域17B間のp- 型層12上に、ゲート絶縁膜13を介在して形成されたゲート電極14と、n+ 型領域17Aから基板11まで達するように形成されたコンタクトプラグ18と、基板11の第2主面上に形成されたソース電極25と、p- 型層12上に絶縁膜19、22を介在して形成され、n+ 型領域17Bに電気的に接続されたドレイン電極24とを有している。
Claim (excerpt):
第1主面とこの第1主面に対向する第2主面を有する第1導電型の半導体基板と、前記半導体基板の前記第1主面上に形成された第1導電型の第1半導体領域と、前記第1半導体領域に、互いに離間して形成された第2導電型の第2、第3半導体領域と、前記第2半導体領域と前記第3半導体領域との間の前記第1半導体領域上に、ゲート絶縁膜を介在して形成されたゲート電極と、前記第2半導体領域から前記半導体基板まで達するように形成され、前記第2半導体領域と前記半導体基板とを電気的に接続する導電体と、前記半導体基板の前記第2主面上に形成され、前記半導体基板に電気的に接続された第1主電極と、前記第1半導体領域上に絶縁膜を介在して形成され、前記第3半導体領域に電気的に接続された第2主電極と、を具備することを特徴とするMOS電界効果トランジスタ。
IPC (5):
H01L 29/78 652 ,  H01L 29/78 ,  H01L 21/8238 ,  H01L 27/092 ,  H01L 29/786
FI (6):
H01L 29/78 652 B ,  H01L 29/78 652 G ,  H01L 29/78 301 D ,  H01L 29/78 616 V ,  H01L 29/78 616 T ,  H01L 27/08 321 E
F-Term (53):
5F048AA05 ,  5F048AA08 ,  5F048AB08 ,  5F048AC01 ,  5F048AC03 ,  5F048BA02 ,  5F048BA12 ,  5F048BB05 ,  5F048BC03 ,  5F048BC05 ,  5F048BC06 ,  5F048BC12 ,  5F048BD04 ,  5F048BF02 ,  5F048BF07 ,  5F048BF17 ,  5F048BF18 ,  5F048DA23 ,  5F110AA13 ,  5F110BB04 ,  5F110CC02 ,  5F110DD05 ,  5F110DD13 ,  5F110DD22 ,  5F110EE09 ,  5F110GG02 ,  5F110GG12 ,  5F110GG24 ,  5F110HJ06 ,  5F110HL04 ,  5F110HM02 ,  5F110HM12 ,  5F110QQ17 ,  5F140AA25 ,  5F140AA30 ,  5F140AA31 ,  5F140AC21 ,  5F140AC36 ,  5F140BA01 ,  5F140BA16 ,  5F140BF01 ,  5F140BF04 ,  5F140BF53 ,  5F140BH03 ,  5F140BH15 ,  5F140BH30 ,  5F140BH34 ,  5F140BH45 ,  5F140BJ01 ,  5F140BJ07 ,  5F140BJ26 ,  5F140BJ27 ,  5F140CA03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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