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J-GLOBAL ID：200903094761192795

表面プラズモン共鳴測定装置並びに表面プラズモン共鳴及び光吸収スペクトル測定装置

Inventor： 鈴木 孝治 ,  栗原 一嘉 ,  高橋 浩三 ,  加藤 健次 ,  飛田 達也 ,  田部井 久男
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団 ,  財団法人神奈川科学技術アカデミー ,  システム・インスツルメンツ株式会社 ,  エヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株式会社
Agent (1)： 八木田 茂 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002014701
Publication number (International publication number)：2003215029
Application date： Jan. 23, 2002
Publication date： Jul. 30, 2003
Summary：

【要約】【課題】 表面プラズモン共鳴現象以外の測定、具体的には、光吸収スペクトルの測定を同じ装置内で行うことが可能になる表面プラズモン共鳴測定装置及び実際に表面プラズモン共鳴及び光吸収スペクトルの両方を測定可能にした表面プラズモン共鳴及び光吸収スペクトル測定装置を提供すること。【解決手段】 本発明に係る表面プラズモン共鳴測定装置は、金属薄膜が形成されたスラブ型の透明な基板からなるスラブ型導波路と、前記スラブ型導波路に光ファイバを介して白色光を導入するように構成された光源手段と、前記スラブ型導波路内を伝搬した後、該スラブ型導波路から出射する光を検出し分析する光検出手段とを備え、前記金属薄膜上に試料を配置し、前記光源手段を用いてスラブ型導波路内に白色光を入射してスラブ型導波路を伝搬させ、試料が配置された金属薄膜において表面プラズモン現象を生じさせ、前記光検出手段を用いて該スラブ型導波路から出射した光から表面プラズモン現象による白色光のスペクトル変化を検出し、該検出結果から試料の屈折率を測定するように構成されている。

Claim (excerpt)：

金属薄膜が形成されたスラブ型の透明な基板からなるスラブ型導波路と、前記スラブ型導波路に光ファイバを介して白色光を導入するように構成された光源手段と、前記スラブ型導波路内を伝搬した後、該スラブ型導波路から出射する光を検出し分析する光検出手段とを備え、前記金属薄膜上に試料を配置し、前記光源手段を用いてスラブ型導波路内に白色光を入射してスラブ型導波路を伝搬させ、試料が配置された金属薄膜において表面プラズモン現象を生じさせ、前記光検出手段を用いて該スラブ型導波路から出射した光から表面プラズモン現象による白色光のスペクトル変化を検出し、該検出結果から試料の屈折率を測定するように構成したことを特徴とする表面プラズモン共鳴測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/01

FI (2)：

G01N 21/27 C ,  G01N 21/01 Z

F-Term (12)：

2G059AA02 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ24 ,  2G059KK01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 表面プラズモン共鳴を利用した測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-054296   Applicant：オリンパス光学工業株式会社, 理化学研究所
• 特開昭62-161041
  
• SPRセンサセル及びこれを用いた免疫反応測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-205864   Applicant：スズキ株式会社
• センサプレート
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-252694   Applicant：スズキ株式会社
• 特開昭62-161041