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J-GLOBAL ID：200903094791527414

変位計測装置

Inventor： ドン ザオフィ ,  蔵本 武明 ,  平沼 茂
Applicant, Patent owner： 株式会社ベーシックエンジニアリング
Agent (1)： 佐野 惣一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007056535
Publication number (International publication number)：2008216158
Application date： Mar. 07, 2007
Publication date： Sep. 18, 2008
Summary：

【課題】本発明の課題は、計測点の変位を精度良く算出できる変位計測装置を得ることである。【解決手段】撮像素子に撮影した複数の計測対象物10の変位前後の画像から任意の計測点3aの変位量を算出する変位計測装置1において、撮像素子に撮影した画像を処理する画像処理部13を備え、画像処理部13は画像の複数の計測点3aから任意の一の計測点を基準点12として選択する基準点選択手段24と、基準点12に基づいて各計測点3aの変位量を算出する変位量算出手段25とを備え、基準点選択手段24は先に撮影した画像の計測点3aの座標値と後から撮影した画像の計測点3aの座標値の変化量から基準点12を選択しており、任意の計測点3aの座標値の変化量が所定量より小さいと判断した場合、かかる計測点3aを基準点12としている。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

撮像素子に撮影した複数の計測対象物の変位前後の画像から任意の計測点の変位量を算出する変位計測装置において、撮像素子に撮影した画像を処理する画像処理部を備え、画像処理部は画像の複数の計測点から任意の一の計測点を基準点として選択する基準点選択手段と、基準点に基づいて各計測点の変位量を算出する変位量算出手段とを備え、基準点選択手段は先に撮影した画像の計測点の座標値と後から撮影した画像の計測点の座標値の変化量から基準点を選択しており、任意の計測点の座標値の変化量が所定量より小さいと判断した場合、かかる計測点を基準点とすることを特徴とする変位計測装置。

IPC (3)：

G01C 11/06 ,  G01C 15/06 ,  G01C 3/06

FI (5)：

G01C11/06 ,  G01C15/06 T ,  G01C3/06 140 ,  G01C3/06 110V ,  G01C3/06 120S

F-Term (6)：

2F112AC06 ,  2F112BA02 ,  2F112CA12 ,  2F112CA13 ,  2F112FA38 ,  2F112GA01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 写真測量による変位計測方法及び変位計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-240621   Applicant：倉敷紡績株式会社