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J-GLOBAL ID：200903095096662404

逆コンプトン散乱光を利用した非破壊検査方法及び装置

Inventor： 豊川 弘之 ,  大垣 英明 ,  嶋 達志
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000357003
Publication number (International publication number)：2002162371
Application date： Nov. 24, 2000
Publication date： Jun. 07, 2002
Summary：

【要約】【課題】 X線ラジオグラフィーやCTなどの装置には、数10 keV〜百数10 keV程度の比較的エネルギーの低いX線が使用されるため、人体より大きな物体や原子番号の高い元素から構成される物質の検査に適用することが困難であるという課題があった。【解決手段】 レーザ逆コンプトン光子を利用し、この光子が有する高指向性、準単色性、エネルギー可変性などの利点を利用し、物質の非破壊検査を行う。

Claim (excerpt)：

逆コンプトン散乱により生じた光子を被検査体へ照射し、その透過光を検出することにより、被検査体内部の物質の組成及び密度分布に関する情報を得る非破壊検査方法。

IPC (2)：

G01N 23/04 ,  G21K 5/02

FI (2)：

G01N 23/04 ,  G21K 5/02 X

F-Term (12)：

2G001AA01 ,  2G001AA02 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001CA02 ,  2G001JA07 ,  2G001KA03 ,  2G001KA20 ,  2G001NA16 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12 ,  2G001SA02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 電子/レーザ衝突型X線発生装置及びX線発生方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-068622   Applicant：住友重機械工業株式会社
• 光核反応の反応断面積測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-158083   Applicant：三菱重工業株式会社