測距装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：伊藤進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000116995
Publication number (International publication number)：2001304855
Application date： Apr. 18, 2000
Publication date： Oct. 31, 2001
Summary：

【要約】【課題】安価で、かつ、簡単な操作で正確に主要被写体を検出、ピント合わせを行い得る測距装置を提供する。【解決手段】マイクロコンピュータ11の指示の下、AFエリアセンサ12の出力に基づいて被写体の輪郭を抽出し、広範囲な測距エリアのうちで輪郭内について重点的に測距を行うことで、背景に影響されることなく主要被写体に正確にピントをあわせることが可能となる。

Claim (excerpt)：

視差を有する2つの光学系と、上記光学系により結像される2像を撮像する撮像素子と、上記撮像素子の出力を処理して円形に近い形状のパターンを検出することにより人物の顔を検出する顔検出手段と、上記撮像素子の出力に基づいて測距を行う測距手段と、を備え、上記測距手段は、上記顔検出手段の検出領域を優先的に測距することを特徴とする測距装置。

IPC (5)：

G01C 3/06 , G01B 11/00 , G02B 7/28 , G02B 7/30 , G03B 13/36

FI (5)：

G01C 3/06 V , G01B 11/00 H , G02B 7/11 N , G02B 7/11 A , G03B 3/00 A

F-Term (45)：

2F065AA02 , 2F065AA06 , 2F065BB05 , 2F065CC16 , 2F065DD02 , 2F065DD04 , 2F065FF09 , 2F065GG10 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ26 , 2F065QQ03 , 2F065QQ14 , 2F065QQ24 , 2F065QQ28 , 2F065QQ34 , 2F112AD06 , 2F112BA07 , 2F112BA10 , 2F112CA02 , 2F112CA12 , 2F112FA03 , 2F112FA07 , 2F112FA21 , 2F112FA29 , 2F112FA33 , 2F112FA45 , 2H011AA01 , 2H011BA05 , 2H011BB02 , 2H011BB04 , 2H011BB06 , 2H011CA01 , 2H051AA01 , 2H051BB07 , 2H051CB22 , 2H051CE12 , 2H051CE28 , 2H051DA03 , 2H051DA04 , 2H051DA05 , 2H051DA20 , 2H051DA34 , 2H051EB13 , 2H051EB20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

像信号処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-015458 Applicant：キヤノン株式会社
カメラ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-009532 Applicant：富士写真フイルム株式会社
測距装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-120500 Applicant：オリンパス光学工業株式会社

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