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J-GLOBAL ID:200903095429832167
流動接触分解ユニットへの異常事象検知技術の適用
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
河備 健二
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007531431
Publication number (International publication number):2008512800
Application date: Sep. 09, 2005
Publication date: Apr. 24, 2008
Summary:
本発明は、流動接触分解ユニットのプロセス・ユニットにおける異常事象を検知する方法である。本方法は、プロセス・ユニットの動作を統計および工学モデルと比較する。統計モデルは、これらの装置の正常動作の主成分分析により構築される。また、当該工学モデルは、部分最小二乗法分析および変数間の相関分析に基づいている。プロセス・ユニットと正常なモデル結果の動作の差違が異常状態を示す場合、異常状態の原因を特定して是正する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
流動接触分解ユニット(FCCU)のいくつかのプロセス・ユニットにおける異常事象検知(AED)を行なう方法であって、
(a)前記プロセス・ユニットからのオンライン測定値を、対応するプロセス・ユニットの正常動作のモデルの組と比較する工程;
(b)現在の動作が、期待される正常動作とは異なっていて、プロセス・ユニットにおける異常状態の存在を示すか否かを判定する工程;
(c)前記プロセスのオペレータが前記FCCUにおける異常状態の根本原因を特定することを支援する工程;および
(d)前記ユニットを正常動作に戻すべく是正処置を実行する工程
を含むことを特徴とする方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (10):
5H223AA01
, 5H223BB01
, 5H223CC01
, 5H223DD07
, 5H223DD09
, 5H223EE06
, 5H223EE08
, 5H223EE11
, 5H223FF05
, 5H223FF06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (15)
-
米国特許第5,859,964号明細書
-
米国特許第5,949,678号明細書
-
米国特許第6,522,978号明細書
-
米国特許第6,368,975号明細書
-
米国特許第6,466,877号明細書
-
米国特許第6,521,080号明細書
-
米国特許第6,564,119号明細書
-
米国特許第6,636,842号明細書
-
プロセス管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-021766
Applicant:株式会社東芝
-
連続鋳造機の動作を監視して切迫したブレークアウトの発生を検出する多変量(multivariate)統計的モデルベースのシステム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-560993
Applicant:ドファスコインコーポレイテッド
-
設備診断装置および設備診断プログラム記憶媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-377567
Applicant:山武産業システム株式会社
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機器の劣化を検出する方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-115187
Applicant:東京瓦斯株式会社
-
品質情報収集診断システムおよびその方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-141161
Applicant:株式会社日立製作所
-
プラント診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-230153
Applicant:株式会社日立製作所
-
予測的状態監視のための診断システムおよび方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-584179
Applicant:スマートシグナル・コーポレーション
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Cited by examiner (7)
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プラント診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-230153
Applicant:株式会社日立製作所
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プロセス管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-021766
Applicant:株式会社東芝
-
予測的状態監視のための診断システムおよび方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-584179
Applicant:スマートシグナル・コーポレーション
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