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J-GLOBAL ID：200903023180366402

機器の劣化を検出する方法

Inventor：
田村 雅之

About 田村 雅之


Applicant, Patent owner：
東京瓦斯株式会社

About 東京瓦斯株式会社


Agent (1)： 平木 祐輔 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002115187
Publication number (International publication number)：2003315211
Application date： Apr. 17, 2002
Publication date： Nov. 06, 2003
Summary：
【要約】【課題】 性能劣化が徐々に進行するような機器において、線形回帰モデルを用いて機器の測定値を監視することにより、性能劣化を高精度で検出する方法を提供する。【解決手段】 検知システムを有する機器において、測定値の標本データを採取し、該標本データから導出される回帰モデルを用いてその後の測定値を監視することにより、前記機器の劣化を検出する方法であって、近傍に十分な標本データがない測定値が得られた場合には、該測定値を一時保留し、これに続く複数回の測定値と、前記回帰モデルに基づく予測値との残差が連続して所定の値より小さいと判定すれば、前記一時保留した測定値を標本データに追加することを特徴とする。近傍に十分な標本データがない測定値については一時保留し、以後の複数回の測定値が回帰モデルに合致していれば信頼性が高いと判断し、標本データに追加する。
Claim (excerpt)：
検知システムを有する機器において、測定値の標本データを採取し、該標本データから導出される回帰モデルを用いてその後の測定値を監視することにより、前記機器の劣化を検出する方法であって、近傍に十分な標本データがない測定値を得た場合には、該測定値を一時保留し、該測定値前後の複数回の測定値と、前記回帰モデルに基づく予測値との残差が連続して所定の値より小さいと判定すれば、前記一時保留した測定値を標本データに追加することを特徴とする方法。
IPC (4)：
G01M 19/00 ,  F25B 49/02 570 ,  G01N 17/00 ,  G05B 23/02 302
FI (4)：
G01M 19/00 ,  F25B 49/02 570 B ,  G01N 17/00 ,  G05B 23/02 302 S
F-Term (23)：
2G024AD12 ,  2G024BA11 ,  2G024BA12 ,  2G024BA17 ,  2G024CA17 ,  2G024CA26 ,  2G024DA09 ,  2G024FA02 ,  2G024FA11 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050DA03 ,  2G050EA01 ,  2G050EB02 ,  5H223AA01 ,  5H223AA11 ,  5H223BB01 ,  5H223BB02 ,  5H223DD03 ,  5H223DD09 ,  5H223EE02 ,  5H223FF05 ,  5H223FF09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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