分光測定方法とそれを用いた分光測定器

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：柳野隆生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996086292
Publication number (International publication number)：1997281035
Application date： Apr. 09, 1996
Publication date： Oct. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】被測定物を高速で搬送しつつその内部性状を短時間で測定することのできる分光測定方法とそれを用いた分光測定器を提供すること。【解決手段】分光測定方法としては、所定の方向に照射された複数の測定用光路に対して、被測定物を移動通過させることによって前記被測定物に測定用光を照射し、複数の測定用光路に対応して得られる被測定物からの特定の波長または波長領域の光を被測定物が測定用光路を通過中に選択的に受光することを特徴とし、分光測定器としては上記分光測定方法を用い、所定方向に配列した複数個の測定用光照射手段1からの測定用光に対して、被測定物移動手段9を挟んで受光手段5を配し、被測定物が測定用光路を通過中に測定を行うことを特徴的構成としている。

Claim (excerpt)：

所定の方向に照射された複数の測定用光路に対して、被測定物を移動通過させることによって前記被測定物に測定用光を照射し、複数の測定用光路に対応して得られる被測定物からの特定の波長または波長領域の光を被測定物が測定用光路を通過中に選択的に受光することを特徴とする分光測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開平4-204354
光学的測定方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-041944 Applicant：財団法人雑賀技術研究所
特開平4-348258

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